| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract（英文摘要） | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-15页 |
| 1．1 Z箍缩等离子体的研究意义 | 第8页 |
| 1．2 Z箍缩等离子体的基本原理和研究内容 | 第8-11页 |
| 1．2．1 Z箍缩等离子体的基本原理 | 第8-10页 |
| 1．2．2 Z箍缩等离子体的研究内容 | 第10-11页 |
| 1．3 Z箍缩等离子体的研究现状 | 第11-13页 |
| 1．4 激光诊断技术在Z箍缩等离子体诊断中的应用 | 第13-14页 |
| 1．5 论文主要工作和意义 | 第14-15页 |
| 第二章 高温等离子体激光干涉诊断原理 | 第15-27页 |
| 2．1 激光诊断技术概述 | 第15-16页 |
| 2．2 光学干涉的基本原理 | 第16-19页 |
| 2．2．1 相干的必要条件 | 第16-17页 |
| 2．2．2 相干的补充条件 | 第17-19页 |
| 2．3 激光与等离子体的相互作用及等离子体折射率 | 第19-22页 |
| 2．4 M-Z激光干涉仪测量等离子体电子密度原理 | 第22-25页 |
| 2．4．1 M-Z干涉仪原理 | 第22-24页 |
| 2．4．2 M-Z干涉仪测量等离子体电子密度原理 | 第24-25页 |
| 2．5 等离子体电子密度空间分布的确定 | 第25-27页 |
| 第三章 多幅M-Z干涉仪的研制及调试 | 第27-43页 |
| 3．1 多幅M-Z干涉仪系统 | 第27页 |
| 3．2 激光器 | 第27-36页 |
| 3．2．1 高温等离子体诊断对激光器性能的要求 | 第27-30页 |
| 3．2．2 Nd:YAG激光器工作原理 | 第30-36页 |
| 3．3 空间分光系统 | 第36-38页 |
| 3．4 M-Z干涉仪 | 第38页 |
| 3．5 CCD成像系统 | 第38-39页 |
| 3．6 单幅M-Z干涉仪的调整 | 第39-42页 |
| 3．7 多幅M-Z干涉仪的调整 | 第42-43页 |
| 第四章 多幅M-Z干涉仪在喷气式Z箍缩装置上的实验 | 第43-64页 |
| 4．1 喷气式Z箍缩装置 | 第43-45页 |
| 4．2 干涉仪和Z装置的同步控制 | 第45-48页 |
| 4．2．1 同步控制时序 | 第45-47页 |
| 4．2．2 同步控制中的电路单元 | 第47-48页 |
| 4．3 激光脉冲和Z装置同步时刻的校正 | 第48-51页 |
| 4．3．1 电缆传输延时的影响 | 第49-50页 |
| 4．3．2 光路传输延时的影响 | 第50页 |
| 4．3．3 同步时刻的校正 | 第50-51页 |
| 4．4 实验结果及分析 | 第51-64页 |
| 4．4．1 干涉图与喷嘴之间的关系 | 第51页 |
| 4．4．2 箍缩点之前的干涉图 | 第51-56页 |
| 4．4．3 箍缩点附近的干涉图 | 第56-59页 |
| 4．4．4 箍缩点之后的干涉图 | 第59-64页 |
| 第五章 结论 | 第64-67页 |
| 参考文献 | 第67-68页 |