| 中文摘要 | 第1-3页 |
| 英文摘要 | 第3-5页 |
| 第一章 绪论 | 第5-14页 |
| 1．1 虚拟仪器的基本概念 | 第5-7页 |
| 1．2 虚拟仪器的开发软件 | 第7-10页 |
| 1．3 虚拟仪器的应用现状 | 第10-12页 |
| 1．4 论文工作意义与内容 | 第12-14页 |
| 第二章 频率源的主要性能指标和测量频率的方法 | 第14-22页 |
| 2．1 频率源的主要性能指标 | 第14-17页 |
| 2．2 测量频率的基本方法 | 第17-20页 |
| 2．3 多周期同序比相测频法 | 第20-22页 |
| 第三章 DF2000多通道高分辨率校频仪的硬件组成 | 第22-25页 |
| 3．1 校频仪的硬件总体结构 | 第22页 |
| 3．2 数据采集和处理电路 | 第22-25页 |
| 第四章 DF2000多通道高分辨率校频仪虚拟仪器部分的开发 | 第25-37页 |
| 4．1 校频仪虚拟仪器部分开发的总体方案 | 第25-26页 |
| 4．2 用LabVIEW设计的虚拟仪器面版 | 第26页 |
| 4．3 用LabVIEW实现虚拟仪器与单片机系统的通讯 | 第26-31页 |
| 4．4 用LabVIEW实现虚拟仪器各项测频功能 | 第31-35页 |
| 4．5 用LabVIEW实现测量数据的保存 | 第35-37页 |
| 第五章 用频率测量虚拟仪器系统对晶振频率测量 | 第37-44页 |
| 5．1 对标称值为2．048MHz高稳晶振各频率性能指标的测量 | 第37-41页 |
| 5．2 对标称值为5000007Hz恒温晶振各频率性能指标的测量 | 第41-44页 |
| 第六章 影响DF2000高分辨率校频仪测量精度因数的研究 | 第44-50页 |
| 6．1 相检式多周期同步测频法原理及其优、缺点 | 第44-45页 |
| 6．2 计算机模拟被测频率和标准频率的相位变化规律 | 第45-48页 |
| 6．3 相位变化规律对测量精度的影响 | 第48-49页 |
| 6．4 进一步提高测量精度的方法 | 第49-50页 |
| 结论 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
