电子设备可靠性分析与软件开发
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 引言 | 第7-11页 |
| 第一章 系统的可靠性建模 | 第11-30页 |
| 第一节 不可修系统的可靠性建模 | 第11-21页 |
| ·基本参数定义及模型假设 | 第11-15页 |
| ·典型冗余系统的可靠性建模 | 第15-20页 |
| ·复杂冗余系统的可靠性建模 | 第20-21页 |
| 第二节 可修系统的可靠性建模 | 第21-30页 |
| ·基本参数定义及模型假设 | 第22-24页 |
| ·可靠性建模 | 第24-30页 |
| 第二章 电子设备失效率数据库设计 | 第30-48页 |
| 第一节 数据库的基本概念和设计原则 | 第30-32页 |
| ·数据库的基本概念 | 第30-31页 |
| ·关系型数据库设计的基本原则 | 第31页 |
| ·关系型数据库的设计步骤 | 第31-32页 |
| 第二节 失效率数据库的需求分析 | 第32-33页 |
| 第三节 失效率数据库的概念设计 | 第33-38页 |
| ·半导体单片集成电路的E-R图 | 第33-34页 |
| ·混合集成电路的E-R图 | 第34-35页 |
| ·声表面波器件的E-R图 | 第35页 |
| ·普通晶体管及二极管的E-R图 | 第35-36页 |
| ·光电子器件的E-R图 | 第36-37页 |
| ·电位器的E-R图 | 第37页 |
| ·机电继电器的E-R图 | 第37页 |
| ·开关的E-R图 | 第37-38页 |
| ·微波元器件的E-R图 | 第38页 |
| 第四节 失效率数据库的逻辑设计 | 第38-45页 |
| ·半导体集成电路的数据表 | 第39-40页 |
| ·混合集成电路的数据表 | 第40-41页 |
| ·声表面波器件的数据表 | 第41页 |
| ·普通晶体管及二极管器件的数据表 | 第41-42页 |
| ·光电子器件的数据表 | 第42-43页 |
| ·电位器的数据表 | 第43-44页 |
| ·机电继电器的数据表 | 第44页 |
| ·开关的数据表 | 第44-45页 |
| ·微波元器件的数据表 | 第45页 |
| 第五节 失效率数据库的物理设计 | 第45-46页 |
| 第六节 失效率数据库的访问方法 | 第46-48页 |
| 第三章 可靠性分析软件的开发 | 第48-63页 |
| 第一节 可靠性分析软件的总体设计思想 | 第48-51页 |
| ·元器件可靠性分析模块的设计思想 | 第49页 |
| ·系统可靠性分析模块的设计思想 | 第49-51页 |
| 第二节 可靠性分析软件与数据库间的数据调用方法 | 第51-53页 |
| ·ADO的对象结构 | 第51-52页 |
| ·ADO在VB6.0中的设定 | 第52-53页 |
| 第三节 可靠性分析软件的实现 | 第53-63页 |
| ·可靠性分析软件的程序流程 | 第53-58页 |
| ·可靠性分析软件的界面设计 | 第58-63页 |
| 第四章 电路的可靠性分析 | 第63-77页 |
| 第一节 单一器件的可靠性分析 | 第63-68页 |
| ·环境对继电器可靠性的影响 | 第64页 |
| ·质量等级对继电器可靠性的影响 | 第64-65页 |
| ·负载类型与额定温度对继电器可靠性的影响 | 第65页 |
| ·触点形式对继电器可靠性的影响 | 第65-66页 |
| ·结构类型对继电器可靠性的影响 | 第66-67页 |
| ·温度对继电器可靠性的影响 | 第67页 |
| ·动作速率对继电器可靠性的影响 | 第67-68页 |
| ·电流比对继电器可靠性的影响 | 第68页 |
| 第二节 电路的可靠性分析 | 第68-74页 |
| ·冗余对电路可靠性的影响 | 第69-70页 |
| ·继电器矩阵可靠性分析 | 第70-74页 |
| 第三节 维修对电路可靠性的影响 | 第74-77页 |
| ·维修对冗余电路的可靠性影响 | 第74-75页 |
| ·维修对继电器矩阵可用性的影响 | 第75-77页 |
| 结束语 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
