| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 引言 | 第10-11页 |
| 1 文献综述 | 第11-49页 |
| ·固体材料研究意义 | 第11-12页 |
| ·固体材料元素分析的常规方法 | 第12-14页 |
| ·常规检测方法 | 第12-13页 |
| ·消解方法 | 第13-14页 |
| ·ICP-MS 技术的原理和应用 | 第14-19页 |
| ·ICP-MS 技术简介及原理 | 第14-15页 |
| ·ICP-MS 技术特点 | 第15-16页 |
| ·ICP-MS 技术的应用 | 第16-19页 |
| ·激光剥蚀进样技术(LA)的原理及LA-ICP-MS 技术的应用 | 第19-34页 |
| ·激光剥蚀进样技术(LA)的原理 | 第19-20页 |
| ·LA-ICP-MS 技术特点 | 第20-21页 |
| ·LA-ICP-MS 技术的应用 | 第21-34页 |
| ·本论文的研究目的、意义及主要内容 | 第34-36页 |
| 参考文献 | 第36-49页 |
| 2 高压消解－电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定低合金钢中硼、钛、锆、铌、锡、锑、钽、钨、铅 | 第49-63页 |
| ·概述 | 第49-50页 |
| ·实验部分 | 第50-51页 |
| ·仪器及工作参数 | 第50页 |
| ·试剂与样品 | 第50-51页 |
| ·实验方法 | 第51页 |
| ·结果与讨论 | 第51-57页 |
| ·消解方法 | 第51-52页 |
| ·雾化系统选择 | 第52页 |
| ·仪器工作参数优化 | 第52-55页 |
| ·干扰研究 | 第55-56页 |
| ·内标元素选择 | 第56-57页 |
| ·基体效应研究 | 第57页 |
| ·检出限及测定范围 | 第57页 |
| ·低合金钢样品分析 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 3 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法(LA-ICP-MS)测定塑料中的铅、镉、铬、汞 | 第63-80页 |
| ·概述 | 第63-64页 |
| ·实验部分 | 第64-65页 |
| ·仪器及工作参数 | 第64页 |
| ·标准物质与样品 | 第64-65页 |
| ·样品制备 | 第65页 |
| ·实验方法 | 第65页 |
| ·结果与讨论 | 第65-78页 |
| ·剥蚀方式的选择 | 第65-67页 |
| ·仪器工作参数优化 | 第67-75页 |
| ·分馏效应 | 第75-76页 |
| ·基体效应 | 第76-77页 |
| ·记忆效应 | 第77页 |
| ·塑料样品分析 | 第77-78页 |
| ·检出限 | 第78页 |
| ·本章小结 | 第78-80页 |
| 4 结论与展望 | 第80-84页 |
| ·研究结论 | 第80-81页 |
| ·本研究工作的创新点 | 第81页 |
| ·本研究工作的前景展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
