微小零件尺寸及表面缺陷的机器视觉检测技术研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·课题来源及意义 | 第7-9页 |
| ·微小零件尺寸与质量检测研究现状 | 第9-12页 |
| ·零件尺寸与质量检测的技术现状 | 第9-11页 |
| ·微小零件视觉检测的国内外现状 | 第11-12页 |
| ·微小零件视觉检测存在的问题及发展趋势 | 第12-13页 |
| ·本文的研究内容 | 第13-14页 |
| ·本章小节 | 第14-15页 |
| 第二章 微小零件尺寸及表面缺陷视觉检测系统 | 第15-23页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·微小零件尺寸及表面缺陷检测过程分析 | 第15页 |
| ·检测系统的总体设计 | 第15-18页 |
| ·实验系统组成 | 第16页 |
| ·视觉检测系统总体流程 | 第16-18页 |
| ·硬件的选择 | 第18-22页 |
| ·光源的选择 | 第18-19页 |
| ·CCD 摄像机的选择 | 第19-20页 |
| ·光学镜头的选择 | 第20页 |
| ·图像采集卡的选择 | 第20-22页 |
| ·计算机 | 第22页 |
| ·软件选择 | 第22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 微小零件尺寸及表面缺陷视觉检测的关键技术 | 第23-49页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·图像采集 | 第23-24页 |
| ·图像拼接 | 第24-25页 |
| ·图像的匹配技术 | 第24页 |
| ·图像的无缝拼接技术 | 第24-25页 |
| ·图像处理 | 第25-28页 |
| ·数字图像中的噪声 | 第26页 |
| ·数字图像的滤波 | 第26-28页 |
| ·边缘检测和常用算法 | 第28-47页 |
| ·经典的边缘检测方法 | 第28-36页 |
| ·基于小波变换的边缘检测 | 第36-39页 |
| ·亚像素边缘检测 | 第39-47页 |
| ·摄像机标定 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 IC 探针尺寸测量研究 | 第49-57页 |
| ·引言 | 第49页 |
| ·零件尺寸要素及测量方法 | 第49-53页 |
| ·测量系统及组成 | 第53-54页 |
| ·摄像系统标定 | 第53-54页 |
| ·图像预处理 | 第54页 |
| ·实验与分析 | 第54-56页 |
| ·实验 | 第54-55页 |
| ·误差分析 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 IC 探针表面缺陷的视觉检测技术 | 第57-67页 |
| ·引言 | 第57页 |
| ·图像拼接 | 第57-58页 |
| ·探针表面缺陷的亚像素边缘检测 | 第58-60页 |
| ·缺陷大小度量及特征提取 | 第60-65页 |
| ·缺陷大小度量 | 第60-61页 |
| ·缺陷特征提取 | 第61-62页 |
| ·K 均值聚类算法 | 第62-63页 |
| ·模糊C 均值聚类 | 第63-65页 |
| ·实验与分析 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第73-74页 |
