新型抗SEU存储器读写结构及ECC编码方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·空间辐射防护的意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·本文的研究内容及论文结构 | 第10-13页 |
| 第二章 辐射环境及辐射效应 | 第13-23页 |
| ·天然空间辐射环境 | 第13-17页 |
| ·银河宇宙射线 | 第14页 |
| ·地磁场捕获辐射带 | 第14-16页 |
| ·太阳质子事件 | 第16-17页 |
| ·与飞行轨道相关的电离辐射环境 | 第17-18页 |
| ·核辐射环境 | 第18-19页 |
| ·大气环境 | 第19页 |
| ·地面环境 | 第19-20页 |
| ·辐射效应 | 第20-23页 |
| ·位移辐射效应 | 第20-21页 |
| ·电离辐射效应 | 第21-23页 |
| 第三章 单粒子翻转的机理及相关防护措施 | 第23-35页 |
| ·单粒子效应概述 | 第23-27页 |
| ·单粒子效应量化表述 | 第27-28页 |
| ·单粒子翻转的机理 | 第28-33页 |
| ·电荷沉淀 | 第28-29页 |
| ·电荷收集 | 第29-31页 |
| ·临界电荷 | 第31-32页 |
| ·SRAM中的单粒子翻转机理 | 第32-33页 |
| ·单粒子翻转的加固 | 第33-35页 |
| ·工艺加固 | 第33-34页 |
| ·电路层加固 | 第34页 |
| ·系统层加固 | 第34-35页 |
| 第四章 检纠错技术校验原理及设计思想 | 第35-49页 |
| ·检错纠错技术概述 | 第36-38页 |
| ·检纠错技术原理 | 第36-38页 |
| ·检纠错技术特点 | 第38页 |
| ·汉明码ECC技术 | 第38-42页 |
| ·汉明码算法 | 第38-41页 |
| ·汉明码检纠错能力 | 第41-42页 |
| ·本文的设计思想 | 第42-47页 |
| ·改进汉明检纠错技术的算法分析 | 第42-45页 |
| ·改进汉明检纠错技术的设计思想 | 第45-47页 |
| ·本章小节 | 第47-49页 |
| 第五章 电路设计及FPGA验证 | 第49-67页 |
| ·ECC编解码模块概述 | 第49-50页 |
| ·ECC编码模块 | 第50-53页 |
| ·ECC解码模块 | 第53页 |
| ·ECC比较纠错模块 | 第53-55页 |
| ·ECC顶层模块 | 第55-57页 |
| ·电路综合 | 第57-60页 |
| ·FPGA硬件验证 | 第60-65页 |
| ·FPGA板简介 | 第60-62页 |
| ·FPGA硬件验证 | 第62-65页 |
| ·本章小节 | 第65-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
| ·全文工作总结 | 第67页 |
| ·进一步工作展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
