中文摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第9-25页 |
1.1 引言 | 第9页 |
1.2 钙钛矿锰氧化物基本物理性质 | 第9-15页 |
1.2.1 晶体结构 | 第9-11页 |
1.2.2 电子结构及Jahn-Teller效应 | 第11-12页 |
1.2.3 庞磁阻效应 | 第12页 |
1.2.4 双交换理论 | 第12-14页 |
1.2.5 超交换理论 | 第14-15页 |
1.3 钙钛矿稀土镍酸盐基本物理性质 | 第15-16页 |
1.3.1 晶体结构 | 第15页 |
1.3.2 输运性能与磁性 | 第15-16页 |
1.4 交换偏置及自旋玻璃态 | 第16-22页 |
1.4.1 交换偏置现象 | 第16-17页 |
1.4.2 影响交换偏置的因素 | 第17-20页 |
1.4.3 交换偏置的经典理论模型 | 第20-21页 |
1.4.4 自旋玻璃态 | 第21-22页 |
1.5 本论文的研究意义及内容 | 第22-25页 |
2 实验样品的制备及表征 | 第25-33页 |
2.1 引言 | 第25页 |
2.2 脉冲激光沉积系统 | 第25-30页 |
2.2.1 脉冲激光沉积的利弊 | 第26-27页 |
2.2.2 薄膜制备过程 | 第27-28页 |
2.2.3 影响薄膜制备的因素 | 第28-29页 |
2.2.4 反射高能电子衍射 | 第29-30页 |
2.3 实验表征手段 | 第30-33页 |
2.3.1 X射线衍射 | 第30-31页 |
2.3.2 原子力显微镜 | 第31页 |
2.3.3 综合物性测量系统 | 第31-33页 |
3 S_rTiO_3基片的处理 | 第33-39页 |
3.1 引言 | 第33-34页 |
3.2 实验过程 | 第34页 |
3.3 结果与讨论 | 第34-37页 |
3.3.1 S_rTiO_3(001)基片处理条件的研究 | 第34-36页 |
3.3.2 S_rTiO_3(001)基片上薄膜的外延生长 | 第36-37页 |
3.4 本章小结 | 第37-39页 |
4 La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3和LaNiO_3薄膜磁电性质的研究 | 第39-49页 |
4.1 引言 | 第39页 |
4.2 实验过程 | 第39-40页 |
4.3 结果与讨论 | 第40-48页 |
4.3.1 La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3和LaNiO_3薄膜在SrTiO_3基片上磁电性质的研究 | 第40-45页 |
4.3.1.1 结构表征 | 第40-42页 |
4.3.1.2 磁性表征 | 第42-43页 |
4.3.1.3 电输运性质表征 | 第43-45页 |
4.3.2 La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3薄膜在LaAlO_3基片上交换偏置的研究 | 第45-48页 |
4.3.2.1 结构表征 | 第45页 |
4.3.2.2 磁性表征 | 第45-48页 |
4.4 本章小结 | 第48-49页 |
5 La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3/LaNiO_3双层膜交换偏置的研究 | 第49-57页 |
5.1 引言 | 第49页 |
5.2 实验过程 | 第49-50页 |
5.3 结果与讨论 | 第50-55页 |
5.3.1 结构表征 | 第50-51页 |
5.3.2 磁性表征 | 第51-55页 |
5.4 本章小结 | 第55-57页 |
6 结论 | 第57-59页 |
参考文献 | 第59-65页 |
附录 | 第65-75页 |
1 泵浦探测测量系统 | 第65-69页 |
2 纳米磁光克尔效应仪 | 第69-72页 |
3 磁光克尔显微镜 | 第72-75页 |
在学期间的研究成果 | 第75-77页 |
致谢 | 第77页 |