| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-24页 |
| 1.1 选题意义及应用背景 | 第14-15页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第15-16页 |
| 1.3 集成电路测试简介 | 第16-21页 |
| 1.3.1 测试的必要性与经济性 | 第16-17页 |
| 1.3.2 测试方法与分类 | 第17-20页 |
| 1.3.3 自动化测试设备简介 | 第20-21页 |
| 1.4 本文主要工作和基本安排 | 第21-24页 |
| 第二章 USB电池充电规范 | 第24-38页 |
| 2.1 USB接口简介 | 第24-25页 |
| 2.2 USB充电端口识别机制 | 第25-37页 |
| 2.2.1 USB充电规范的发展 | 第25页 |
| 2.2.2 USB BC1.2定义的充电端口 | 第25-27页 |
| 2.2.3 USB充电端口识别机制详解 | 第27-37页 |
| 2.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 基于PMIC的USB充电管理模块测试方案设计 | 第38-58页 |
| 3.1 PMIC芯片中的电池管理系统 | 第38-39页 |
| 3.2 外部电池接口模块测试 | 第39-45页 |
| 3.2.1 电路结构及工作原理 | 第39-42页 |
| 3.2.2 负载接口板设计 | 第42-44页 |
| 3.2.3 测试目标与方法 | 第44-45页 |
| 3.3 USB充电端口识别模块测试 | 第45-47页 |
| 3.3.1 电路结构与工作原理 | 第45-46页 |
| 3.3.2 负载接口板设计 | 第46页 |
| 3.3.3 测试目标和方法 | 第46-47页 |
| 3.4 USB开关模块测试 | 第47-49页 |
| 3.4.1 电路结构与原理 | 第47-48页 |
| 3.4.2 负载接口板设计 | 第48页 |
| 3.4.3 测试目标与方法 | 第48-49页 |
| 3.5 DFT结构设计与测试向量的开发 | 第49-55页 |
| 3.5.1 芯片中的JTAG | 第49-51页 |
| 3.5.2 寄存器的配置 | 第51-55页 |
| 3.6 制定测试方案表 | 第55-56页 |
| 3.6.1 外部电池接口模块的测试方案表 | 第55页 |
| 3.6.2 USB充电端口识别模块的测试方案表 | 第55-56页 |
| 3.6.3 USB开关的测试方案表 | 第56页 |
| 3.7 本章小结 | 第56-58页 |
| 第四章 基于V93000的USB充电管理测试方案的实现 | 第58-70页 |
| 4.1 V93000测试环境 | 第58-64页 |
| 4.1.1 测试硬件 | 第58-60页 |
| 4.1.2 测试程序结构 | 第60-61页 |
| 4.1.3 配置测试数据 | 第61-64页 |
| 4.2 测试代码的开发 | 第64-69页 |
| 4.3 本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 测试结果分析 | 第70-76页 |
| 5.1 常温下单粒芯片的测试结果分析 | 第70-72页 |
| 5.1.1 外部电池接口模块 | 第70页 |
| 5.1.2 USB充电端口识别模块 | 第70-71页 |
| 5.1.3 USB开关 | 第71-72页 |
| 5.2 不同温度条件下百粒芯片的测试结果 | 第72-74页 |
| 5.3 本章小结 | 第74-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 6.1 研究结论 | 第76页 |
| 6.2 研究展望 | 第76-78页 |
| 附录 | 第78-98页 |
| 参考文献 | 第98-102页 |
| 致谢 | 第102-104页 |
| 作者简介 | 第104-105页 |