| 摘要 | 第1-15页 |
| Abstract | 第15-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-33页 |
| ·课题研究的必要性 | 第17-21页 |
| ·高功率微波技术与微波效应研究相辅相成发展 | 第17-19页 |
| ·微波与目标作用过程研究极为重要 | 第19-20页 |
| ·高速高集成电路的发展为微波效应研究提出新的要求 | 第20-21页 |
| ·研究现状 | 第21-29页 |
| ·系统耦合传输的研究 | 第21-24页 |
| ·子系统及电路单元的微波效应 | 第24-26页 |
| ·效应数据库、效应评估及防护加固 | 第26-29页 |
| ·论文的研究意义、思路及主要内容 | 第29-33页 |
| ·论文的研究意义 | 第29-31页 |
| ·论文的研究思路 | 第31页 |
| ·论文主要内容 | 第31-33页 |
| 第二章 微波与带缝金属腔体的耦合 | 第33-57页 |
| ·孔缝耦合 | 第35-51页 |
| ·矩形窄缝耦合特性的理论分析 | 第35-43页 |
| ·圆形和圆环孔缝的耦合特性 | 第43-45页 |
| ·加载孔缝的耦合特性 | 第45-48页 |
| ·孔缝阵列 | 第48-51页 |
| ·腔体及孔缝耦合的传输函数 | 第51-54页 |
| ·复杂腔体内部的耦合分析 | 第51-53页 |
| ·带孔缝腔体的耦合传输函数 | 第53-54页 |
| ·带缝腔体的防护 | 第54-55页 |
| ·本章总结 | 第55-57页 |
| 第三章 微波与电路的耦合 | 第57-67页 |
| ·电路中线路的耦合 | 第57-61页 |
| ·同轴电缆 | 第58-59页 |
| ·电子线路中的单线 | 第59-61页 |
| ·等离子体电路影响 | 第61-66页 |
| ·电路等离子体的等效电路模型 | 第61-64页 |
| ·沿线分布等离子体对纵向传输的影响 | 第64-65页 |
| ·沿线分布等离子体对微波耦合的影响 | 第65-66页 |
| ·本章总结 | 第66-67页 |
| 第四章 CMOS 反相器电路的微波效应研究 | 第67-103页 |
| ·电路性能分析 | 第67-71页 |
| ·效应电路中元器件的微波效应理论分析 | 第71-80页 |
| ·微波注入CMOS 单元的闩锁效应模式及机理分析 | 第72-77页 |
| ·CMOS 器件热电击穿机理分析 | 第77-80页 |
| ·微波注入效应电路的数值模拟分析 | 第80-85页 |
| ·电路的注入效应数值模拟模型 | 第80-81页 |
| ·效应电路对微波的功率响应规律 | 第81-84页 |
| ·效应电路对微波的频率响应规律 | 第84-85页 |
| ·效应电路对微波的脉宽及重复频率的响应规律 | 第85页 |
| ·微波注入效应电路实验系统及测量方法 | 第85-93页 |
| ·数字脉冲信号发生器的设计 | 第86-87页 |
| ·温度测量电路的设计 | 第87页 |
| ·注入有效功率测量与计算 | 第87-89页 |
| ·实验数据测量方法 | 第89-91页 |
| ·小样品实验的统计特性有效性 | 第91-92页 |
| ·注入式实验平台 | 第92-93页 |
| ·效应电路的效应分析 | 第93-101页 |
| ·线性干扰 | 第93-96页 |
| ·非线性扰乱 | 第96-99页 |
| ·损伤效应 | 第99-100页 |
| ·注入实验效应总结 | 第100-101页 |
| ·本章总结 | 第101-103页 |
| 第五章 微波注入实验的统计分析及微波辐照实验的扩展 | 第103-113页 |
| ·注入效应实验中线性干扰阈值的统计分析 | 第103-110页 |
| ·无显著规律影响的统计分析 | 第103-106页 |
| ·线性干扰拟合检验 | 第106-109页 |
| ·数据的置信区间估计 | 第109页 |
| ·样本容量的选取 | 第109-110页 |
| ·带封装系统微波效应综合 | 第110-112页 |
| ·本章总结 | 第112-113页 |
| 第六章 结论与展望 | 第113-118页 |
| ·主要工作与结果 | 第113-115页 |
| ·主要创新工作 | 第115-116页 |
| ·今后工作展望 | 第116-118页 |
| 致谢 | 第118-120页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第120-122页 |
| 附录A 文中符号一览表 | 第122-123页 |
| 参考文献 | 第123-133页 |