基于远场方向图诊断相控阵天线失效阵元的方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 本文研究内容与安排 | 第12-14页 |
| 第二章 阵元失效对相控阵天线的影响 | 第14-26页 |
| 2.1 引言 | 第14页 |
| 2.2 阵列综合理论 | 第14-18页 |
| 2.2.1 直线阵列 | 第15-16页 |
| 2.2.2 平面阵列 | 第16-18页 |
| 2.3 道尔夫—切比雪夫综合法 | 第18-20页 |
| 2.4 泰勒综合法 | 第20-21页 |
| 2.5 阵元失效影响度分析 | 第21-25页 |
| 2.5.1 单阵元失效 | 第22-24页 |
| 2.5.2 多阵元失效 | 第24-25页 |
| 2.6 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于远场方向图诊断阵列失效阵元 | 第26-43页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 利用遗传算法诊断失效阵元 | 第26-31页 |
| 3.2.1 遗传算法简介 | 第26-28页 |
| 3.2.2 适应度函数建立 | 第28-29页 |
| 3.2.3 改进的遗传算法 | 第29-31页 |
| 3.3 考虑互耦的阵列方向图计算 | 第31-34页 |
| 3.4 线阵诊断 | 第34-39页 |
| 3.4.1 线阵诊断(阵元间距 0.5 个波长) | 第34-38页 |
| 3.4.3 线阵诊断(阵元间距 0.3 个波长) | 第38-39页 |
| 3.5 平面阵诊断 | 第39-41页 |
| 3.6 本章小结 | 第41-43页 |
| 第四章 阵元失效后的相控阵天线优化 | 第43-51页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 稀疏优化泰勒线阵 | 第43-46页 |
| 4.3 阵列的重新优化赋形 | 第46-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 阵列天线设计与实验验证 | 第51-65页 |
| 5.1 天线单元设计 | 第51-54页 |
| 5.2 馈电网络的设计 | 第54-59页 |
| 5.2.1 威尔金森功分器设计 | 第54-57页 |
| 5.2.2 阵列设计 | 第57-59页 |
| 5.3 加工与实测验证 | 第59-63页 |
| 5.4 本章小结 | 第63-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第70-71页 |
