| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-38页 |
| 1.1 光测力学方法及其误差 | 第11-30页 |
| 1.1.1 光测力学方法 | 第11-23页 |
| 1.1.2 光测力学方法的测量实现 | 第23-26页 |
| 1.1.3 光测力学的误差及校正 | 第26-29页 |
| 1.1.4 长时间及室外测量中的光测力学测量误差及其校正 | 第29-30页 |
| 1.2 温度导致的光测力学测量误差 | 第30-37页 |
| 1.2.1 温度导致的图像变形 | 第31-33页 |
| 1.2.2 温度导致图像变形的机理 | 第33-37页 |
| 1.3 论文各部分的主要内容 | 第37-38页 |
| 第2章 自发热导致的相机温度变化对光测力学方法的影响 | 第38-57页 |
| 2.1 数字相机成像原理 | 第38-40页 |
| 2.2 相机自发热引起的图像变形 | 第40-48页 |
| 2.2.1 相机自发热导致的自身温度变化 | 第40-43页 |
| 2.2.2 相机温度变化引起的图像变形行为 | 第43-48页 |
| 2.3 图像变形导致的光测力学方法测量误差 | 第48-55页 |
| 2.3.1 图像变形对光测方法测量误差的影响规律 | 第48-51页 |
| 2.3.2 温度对光测力学方法测量精度的影响规律的实验验证 | 第51-55页 |
| 2.4 本章小结 | 第55-57页 |
| 第3章 相机自发热导致的光测力学方法误差产生机理和规律 | 第57-85页 |
| 3.1 温度导致图像变形的物理模型 | 第57-63页 |
| 3.1.1 温度引起的成像器件热变形行为 | 第57-60页 |
| 3.1.2 温度与成像器件热变形间的关系 | 第60-61页 |
| 3.1.3 温度与图像变形间的关系模型 | 第61-63页 |
| 3.2 温度与图像变形间的关系模型的验证 | 第63-65页 |
| 3.3 温度导致的图像变形误差影响因素及规律 | 第65-83页 |
| 3.3.1 成像系统物距对图像变形误差的影响规律 | 第65-73页 |
| 3.3.2 成像器件结构参数对测量误差的影响规律 | 第73-74页 |
| 3.3.3 相机固定点位置对图像变形误差的影响 | 第74-78页 |
| 3.3.4 相机热变形的不均匀性造成的测量误差 | 第78-83页 |
| 3.4 本章小结 | 第83-85页 |
| 第4章 环境温度导致光测力学测量误差产生的机理及规律 | 第85-101页 |
| 4.1 环境温度对成像系统器件温度的影响行为研究 | 第85-87页 |
| 4.2 环境温度变化导致的成像系统温升和热变形规律的模拟实验研究 | 第87-96页 |
| 4.2.1 温度箱的设计和搭建 | 第87-88页 |
| 4.2.2 环境温度与自发热耦合作用下相机成像器件的温度分布规律 | 第88-90页 |
| 4.2.3 环境温度变化导致的成像器件热变形行为 | 第90-96页 |
| 4.3 环境温度变化导致图像变形的物理模型 | 第96-98页 |
| 4.3.1 物理模型 | 第96-97页 |
| 4.3.2 图像变形与温度间关系模型的验证 | 第97-98页 |
| 4.4 环境温度变化对光测力学方法的影响 | 第98-99页 |
| 4.5 本章小结 | 第99-101页 |
| 第5章 光测力学测量误差的消除和校正 | 第101-113页 |
| 5.1 误差的消除和校正思路 | 第101-102页 |
| 5.2 相机自发热引起的测量误差的消除 | 第102-103页 |
| 5.3 光测力学热致测量误差的校正 | 第103-109页 |
| 5.3.1 基于试件补偿的光测力学热致测量误差校正方法 | 第103-106页 |
| 5.3.2 基于系数校正的光测力学热致测量误差校正方法 | 第106-108页 |
| 5.3.3 两种校正方法的对比 | 第108-109页 |
| 5.4 可消除温度引起的图像“虚变形”数字相机的设计 | 第109-112页 |
| 5.5 本章小结 | 第112-113页 |
| 结论与展望 | 第113-116页 |
| 参考文献 | 第116-123页 |
| 附录 | 第123-126页 |
| 攻读学位期间研究成果清单 | 第126-128页 |
| 致谢 | 第128-129页 |
| 作者简介 | 第129页 |
