摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-17页 |
1.1 课题背景 | 第10-13页 |
1.2 真差分特性阻抗分析仪概述 | 第13-14页 |
1.3 国内外真差分特性阻抗分析仪的研究与应用 | 第14-16页 |
1.3.1 国外发展现状 | 第14-15页 |
1.3.2 国内发展现状 | 第15-16页 |
1.4 论文主要工作 | 第16-17页 |
第二章 特性阻抗测试技术原理 | 第17-27页 |
2.1TDR特性阻抗分析仪基本原理 | 第17-21页 |
2.2 单端特性阻抗测量方法 | 第21页 |
2.3 差分特性阻抗测量方法 | 第21-26页 |
2.3.1 真差分法 | 第23-24页 |
2.3.2 伪差分法 | 第24页 |
2.3.3 算法伪差分法 | 第24-26页 |
2.4 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 仪器总体方案及软件需求分析 | 第27-32页 |
3.1 仪器总体方案 | 第27-29页 |
3.2 软件需求分析 | 第29-30页 |
3.2.1 功能需求 | 第29-30页 |
3.2.2 性能需求 | 第30页 |
3.3 开发环境 | 第30-31页 |
3.4 本章小结 | 第31-32页 |
第四章 软件总体方案与TDR仪器程控技术研究 | 第32-40页 |
4.1 软件总体方案设计 | 第32-37页 |
4.1.1 软件总体结构设计 | 第32-34页 |
4.1.2 基于虚拟仪器平台的软件开发技术 | 第34页 |
4.1.3 软件总体设计方案 | 第34-36页 |
4.1.4 软件模块划分及关系结构 | 第36-37页 |
4.2 基于标准I/O接口软件VISA的仪器控制技术 | 第37-39页 |
4.2.1 仪器标准I/O接口软件VISA简介 | 第37-38页 |
4.2.2 虚拟仪器通讯方式概述 | 第38-39页 |
4.3 本章小结 | 第39-40页 |
第五章 真差分特性阻抗测试与校准技术研究与实现 | 第40-51页 |
5.1TDR特性阻抗测试原理概述 | 第40页 |
5.2 时域二次计算法 | 第40-41页 |
5.3 单端阻抗单点和两点校准技术 | 第41-44页 |
5.4 差分特性阻抗的基本原理 | 第44-47页 |
5.4.1 测量奇模阻抗与差分阻抗 | 第44-46页 |
5.4.2 测量偶模阻抗与共模阻抗 | 第46-47页 |
5.5 真差分TDR特性阻抗校准原理 | 第47-50页 |
5.6 本章小结 | 第50-51页 |
第六章 仪器软件的实现 | 第51-69页 |
6.1 软件主界面 | 第51-52页 |
6.2 软件工作流程 | 第52页 |
6.3 软件线程设计和运行 | 第52-53页 |
6.4 软件模块划分 | 第53-54页 |
6.5 软件各模块详细设计 | 第54-67页 |
6.5.1 参数配置模块 | 第54-57页 |
6.5.2 数据传输模块 | 第57-60页 |
6.5.3 数据分析处理模块 | 第60-63页 |
6.5.4 波形显示模块 | 第63-65页 |
6.5.5 校准模块 | 第65-67页 |
6.6 本章小结 | 第67-69页 |
第七章 软件测试 | 第69-71页 |
7.1 单元功能测试 | 第69页 |
7.2 性能测试 | 第69-70页 |
7.3 测试结果分析 | 第70-71页 |
第八章 总结与展望 | 第71-73页 |
8.1 论文总结 | 第71页 |
8.2 待改进的地方 | 第71-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-76页 |