| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 研究内容和设计指标 | 第11-12页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第11页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第11-12页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第12-13页 |
| 第二章 近、亚阈值电路最低能量点设计理论研究 | 第13-33页 |
| 2.1 CMOS数字集成电路的跨区域模型 | 第13-18页 |
| 2.1.1 CMOS数字集成电路的跨区域模型简介 | 第13-14页 |
| 2.1.2 MOS管源漏电流模型 | 第14-17页 |
| 2.1.3 跨区域电流模型 | 第17-18页 |
| 2.2 跨区域模型应用 | 第18-21页 |
| 2.2.1 延时模型 | 第18-19页 |
| 2.2.2 能量模型 | 第19-20页 |
| 2.2.3 最低能量点 | 第20-21页 |
| 2.3 最低能量点设计方法 | 第21-26页 |
| 2.3.1 最低能量点设计方法简介 | 第21-22页 |
| 2.3.2 电容、等效宽模型建立 | 第22-26页 |
| 2.3.3 系统最低能量点获取 | 第26页 |
| 2.4 低电压下电路的可靠性分析 | 第26-32页 |
| 2.4.1 工艺参数变化 | 第28-29页 |
| 2.4.2 电压参数变化与温度变化 | 第29-31页 |
| 2.4.3 单元噪声容限 | 第31-32页 |
| 2.4.4 电路可靠性分析方法 | 第32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 基于最低能量点工作电路的可靠性设计 | 第33-51页 |
| 3.1 基于最低能量点工作电路的可靠性设计流程 | 第33-34页 |
| 3.2 V_T平衡器的设计与验证 | 第34-41页 |
| 3.2.1 低电压下V_T参数变化问题解析 | 第34-37页 |
| 3.2.2 V_T平衡器的设计 | 第37-38页 |
| 3.2.3 可配置V_T平衡器的设计 | 第38-40页 |
| 3.2.4 基于GF18工艺的V_T平衡器可靠性验证 | 第40-41页 |
| 3.3 低电压标准单元库的选择与设计 | 第41-48页 |
| 3.3.1 低电压单元结构选择 | 第41-43页 |
| 3.3.2 单元最低工作电压 | 第43-45页 |
| 3.3.3 低电压单元尺寸设计 | 第45-47页 |
| 3.3.4 低电压标准单元能量验证 | 第47-48页 |
| 3.4 本章小结 | 第48-51页 |
| 第四章 基于最低能量点的JPEG电路的可靠性设计验证 | 第51-59页 |
| 4.1 JPEG电路的可靠性设计验证流程 | 第51-52页 |
| 4.2 JPEG电路最低能量点设计 | 第52-55页 |
| 4.2.1 基于最低能量点设计方法的JPEG最低能量点获取 | 第52-53页 |
| 4.2.2 最低能量点设计方法准确性验证 | 第53-54页 |
| 4.2.3 最低能量点处JPEG电路可靠性分析 | 第54-55页 |
| 4.3 基于最低能量点电压的可靠性设计方法验证 | 第55-56页 |
| 4.3.1 基于GF18工艺的V_T平衡器设计 | 第55-56页 |
| 4.3.2 基于最低能量点的单元库设计 | 第56页 |
| 4.3.3 标准单元库抽取 | 第56页 |
| 4.4 系统验证 | 第56-58页 |
| 4.4.1 系统验证流程 | 第56-57页 |
| 4.4.2 验证结果与分析 | 第57-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 总结与展望 | 第59-61页 |
| 5.1 总结 | 第59-60页 |
| 5.2 展望 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 作者简介 | 第67页 |
