摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 研究目的及意义 | 第9页 |
1.2 交流接触器产品发展态势 | 第9-11页 |
1.3 交流接触器测试技术研究态势 | 第11-15页 |
1.4 主要研究内容 | 第15-17页 |
第二章 交流接触器时间参数获取方法研究 | 第17-29页 |
2.1 交流接触器接通过程动态分析 | 第17-23页 |
2.1.1 交流接触器的典型结构与原理 | 第17-18页 |
2.1.2 交流接触器接通过程动态模型及微分方程 | 第18-21页 |
2.1.3 交流接触器的选相激磁和接通过程时间特性 | 第21-23页 |
2.2 交流接触器接通时间参数的获取方法 | 第23-28页 |
2.2.1 接触器时间参数传统的测试方法 | 第23-25页 |
2.2.2 交流接触器时间参数的测试方法 | 第25-28页 |
2.2.2.1 方均根法 | 第25-26页 |
2.2.2.2 一种基于三角函数的新算法 | 第26-28页 |
2.3 小结 | 第28-29页 |
第三章 交流接触器时间特性测试系统硬件设计 | 第29-47页 |
3.1 测试系统硬件设计方案 | 第29-33页 |
3.1.1 数据采集电路的设计 | 第30-31页 |
3.1.2 数据采集卡的选型 | 第31-33页 |
3.2 线圈驱动电路的设计与硬件选型 | 第33-38页 |
3.2.1 线圈驱动回路典型结构 | 第33页 |
3.2.2 线圈驱动电路器件选型 | 第33-38页 |
3.2.2.1 数字 I/O 卡选型 | 第34-36页 |
3.2.2.2 控制器件选型 | 第36-38页 |
3.3 线圈电压电流检测电路的设计与器件选型 | 第38-41页 |
3.3.1 线圈选相合闸电路及检测电路的设计 | 第38-39页 |
3.3.2 测试传感器选型 | 第39-41页 |
3.4 触点电压电流检测电路的设计 | 第41-43页 |
3.4.1 测试传感器选型 | 第42-43页 |
3.4.2 检测系统的整体硬件结构 | 第43页 |
3.5 检测系统的抗干扰措施 | 第43-45页 |
3.5.1 信号传输抗干扰 | 第44页 |
3.5.2 测试系统的主机选型抗干扰 | 第44-45页 |
3.6 小结 | 第45-47页 |
第四章 交流接触器时间特性测试系统软件设计 | 第47-65页 |
4.1 软件系统的总体设计 | 第47-50页 |
4.1.1 软件系统工作时序 | 第47-49页 |
4.1.2 软件系统工作流程设计 | 第49-50页 |
4.2 试验系统的程序设计 | 第50-63页 |
4.2.1 线圈选相合闸及驱动控制程序设计 | 第52-54页 |
4.2.2 数据采集程序设计 | 第54-59页 |
4.2.3 数据存储程序设计 | 第59-62页 |
4.2.4 测试系统软件抗干扰设计 | 第62-63页 |
4.3 小结 | 第63-65页 |
第五章 交流接触器时间特性测试结果及分析 | 第65-75页 |
5.1 试验结果及分析 | 第65-71页 |
5.1.1 一对主触头及线圈电压、电流测试结果及分析 | 第66-69页 |
5.1.2 三对主触头及线圈电压、电流测试结果及分析 | 第69-71页 |
5.2 合闸相角对触头时间参数的影响 | 第71-75页 |
第六章 总结 | 第75-77页 |
参考文献 | 第77-81页 |
攻读学位期间所取得的相关成果 | 第81-83页 |
致谢 | 第83页 |