| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| Contents | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-28页 |
| 1.1 研究意义 | 第14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-25页 |
| 1.2.1 复合材料力学测量的发展趋势：从二维到三维 | 第14-15页 |
| 1.2.2 透视测量树脂基复合材料内部三维离面位移场分布的方法 | 第15-18页 |
| 1.2.3 WSI测量树脂基复合材料内部三维离面位移场分布 | 第18-21页 |
| 1.2.4 国内OCT研究现状 | 第21-25页 |
| 1.3 本文研究内容以及论文构架 | 第25-26页 |
| 1.3.1 研究目标 | 第25页 |
| 1.3.2 研究内容 | 第25-26页 |
| 1.3.3 拟解决的关键问题 | 第26页 |
| 1.3.4 论文结构 | 第26页 |
| 1.4 本章小结 | 第26-28页 |
| 第二章 波长扫描干涉原理概述 | 第28-36页 |
| 2.1 三表面干涉模型 | 第28-29页 |
| 2.2 波长扫描干涉时域分析 | 第29-31页 |
| 2.3 波长扫描干涉频域分析 | 第31-33页 |
| 2.3.1 数据采样 | 第31页 |
| 2.3.2 傅里叶变换 | 第31-33页 |
| 2.4 WSI技术相位信息提取 | 第33-35页 |
| 2.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 波长扫描干涉仪设计 | 第36-46页 |
| 3.1 系统原理设计 | 第36-37页 |
| 3.2 光源选择及温控设计 | 第37-41页 |
| 3.2.1 半导体激光器选型 | 第37-38页 |
| 3.2.2 激光器温度控制模块设计 | 第38-41页 |
| 3.3 系统结构设计 | 第41-44页 |
| 3.3.1 WSI系统整体机械构架设计 | 第41-42页 |
| 3.3.2 被测物加载调节装置设计 | 第42-44页 |
| 3.3.3 参考面调节装置设计 | 第44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 WSI透视测量复合材料内部三维离面位移场分布 | 第46-55页 |
| 4.1 多平行平面距离测量的实验 | 第46-48页 |
| 4.1.1 三平行平面干涉实验 | 第46页 |
| 4.1.2 三表面干涉图样数据处理和分析 | 第46-48页 |
| 4.2 高聚物复合材料内部三维离面位移场分布测量的实验 | 第48-53页 |
| 4.2.1 高聚物复合材料测量实验 | 第48-49页 |
| 4.2.2 复合材料干涉图样数据处理和分析 | 第49-53页 |
| 4.3 本章小结 | 第53-55页 |
| 第五章 基于ARM9的WSI图像采集系统设计 | 第55-69页 |
| 5.1 系统的硬件构成 | 第55-59页 |
| 5.1.1 系统功能要求 | 第55页 |
| 5.1.2 微处理器及外围设备选型 | 第55-56页 |
| 5.1.3 系统外部电路设计 | 第56-59页 |
| 5.2 系统的软件设计 | 第59-68页 |
| 5.2.1 操作系统的选择 | 第59页 |
| 5.2.2 交叉编译环境的搭建 | 第59页 |
| 5.2.3 操作系统配置及编译 | 第59-62页 |
| 5.2.4 根文件系统制作 | 第62-65页 |
| 5.2.5 图像采集程序设计 | 第65-68页 |
| 5.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-76页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
