硫化矿样品的X射线荧光光谱分析
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-21页 |
| 1.1 研究现状和进展 | 第11-17页 |
| 1.2 选题依据及研究意义 | 第17-18页 |
| 1.3 研究内容和技术路线 | 第18-19页 |
| 1.4 课题来源 | 第19-21页 |
| 第二章 X射线荧光光谱分析技术 | 第21-29页 |
| 2.1 X射线荧光光谱分析的理论基础 | 第21-25页 |
| 2.1.1 X射线的产生及其性质 | 第21-22页 |
| 2.1.2 X射线光谱 | 第22页 |
| 2.1.3 定性分析 | 第22-23页 |
| 2.1.4 定量分析 | 第23-25页 |
| 2.2 X射线荧光光谱仪 | 第25-26页 |
| 2.3 微区X射线荧光光谱仪 | 第26页 |
| 2.4 便携式X射线荧光光谱仪 | 第26-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 硫化铜矿的X射线荧光光谱分析 | 第29-39页 |
| 3.1 仪器设备及试剂样品 | 第30-31页 |
| 3.1.1 仪器设备 | 第30页 |
| 3.1.2 试剂样品 | 第30页 |
| 3.1.3 硫化铜矿样品 | 第30-31页 |
| 3.2 实验部分 | 第31-33页 |
| 3.2.1 玻璃熔片制备 | 第31页 |
| 3.2.2 仪器参数的选择和测量条件的选择 | 第31-33页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第33-38页 |
| 3.3.1 制样方法 | 第33页 |
| 3.3.2 预氧化条件 | 第33页 |
| 3.3.3 熔融温度和熔融时间 | 第33页 |
| 3.3.4 脱模剂的选择 | 第33-34页 |
| 3.3.5 标准物质选择 | 第34-35页 |
| 3.3.6 准确度和精密度 | 第35-36页 |
| 3.3.7 实际样品测量 | 第36-38页 |
| 3.4 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 微区X射线荧光光谱分析 | 第39-59页 |
| 4.1 仪器设备及样品 | 第41页 |
| 4.2 实验部分 | 第41-43页 |
| 4.2.1 氧化物组合标样和矿物光片 | 第41-42页 |
| 4.2.2 硫化铜矿光片和硫化铜矿熔融片 | 第42页 |
| 4.2.3 金属薄膜 | 第42-43页 |
| 4.2.4 指纹样品 | 第43页 |
| 4.3 结果和讨论 | 第43-56页 |
| 4.3.1 荧光强度与聚焦点位置关系 | 第43-47页 |
| 4.3.2 光片和硫化铜矿熔融片的分析研究 | 第47-53页 |
| 4.3.3 金属薄膜分析 | 第53-54页 |
| 4.3.4 指纹分析 | 第54-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-59页 |
| 第五章 矿区土壤X射线荧光光谱分析 | 第59-69页 |
| 5.1 研究区概况 | 第59-60页 |
| 5.2 土壤样品采集和制备 | 第60-61页 |
| 5.3 实验部分 | 第61-64页 |
| 5.3.1 仪器及工作条件 | 第61页 |
| 5.3.2 主要试剂和样品 | 第61-63页 |
| 5.3.3 土壤样品的前处理 | 第63页 |
| 5.3.4 分析测试 | 第63-64页 |
| 5.4 结果与讨论 | 第64-67页 |
| 5.5 本章小结 | 第67-69页 |
| 结论 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-79页 |
| 附录 | 第79-82页 |
| 个人简介 | 第82页 |
| 学术成果 | 第82页 |
