摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第10-13页 |
1.1 课题背景与意义 | 第10-11页 |
1.2 扫描探针显微镜应用于纳米复合材料的国内外的研究 | 第11-13页 |
第2章 扫描探针显微镜的原理和工作模式 | 第13-25页 |
2.1 扫描探针显微镜的产生和发展 | 第13-14页 |
2.2 原子力显微镜 | 第14-17页 |
2.2.1 原子力显微镜的工作原理 | 第14-15页 |
2.2.2 原子力显微镜的成像原理和工作模式 | 第15-16页 |
2.2.3 微悬臂与针尖 | 第16-17页 |
2.3 轻敲模式下相位图的内涵 | 第17-20页 |
2.3.1 悬臂振动模型 | 第18-19页 |
2.3.2 相位图与能量损耗的关系 | 第19-20页 |
2.4 静电力显微镜的工作原理 | 第20-22页 |
2.5 测量中的误差 | 第22-24页 |
2.5.1 由针尖引起的误差和伪迹 | 第22-23页 |
2.5.2 设备以及工作环境引起的误差和伪迹 | 第23-24页 |
2.6 本章小结 | 第24-25页 |
第3章 利用AFM研究纳米聚烯烃表面的结晶特性 | 第25-42页 |
3.1 引言 | 第25页 |
3.2 聚烯烃表面结晶实验 | 第25-35页 |
3.2.1 实验原理 | 第25-27页 |
3.2.2 样品制备 | 第27-28页 |
3.2.3 实验设备 | 第28页 |
3.2.4 实验步骤 | 第28-29页 |
3.2.5 实验结果 | 第29-32页 |
3.2.6 结果分析 | 第32-35页 |
3.3 纳米Al_2O_3/PE的表面结晶 | 第35-38页 |
3.3.1 实验样品与仪器 | 第35页 |
3.3.2 结果分析 | 第35-38页 |
3.4 AFM相位法进行结晶度的计算 | 第38-41页 |
3.5 本章小结 | 第41-42页 |
第4章 纳米复合聚乙烯的表面微区介电常数 | 第42-50页 |
4.1 引言 | 第42页 |
4.2 纳米ZnO复合电介质的表面电学特性研究 | 第42-49页 |
4.2.1 实验样品 | 第42页 |
4.2.2 实验仪器 | 第42-43页 |
4.2.3 实验原理及步骤 | 第43-45页 |
4.2.4 实验结果 | 第45-47页 |
4.2.5 分析与讨论 | 第47-49页 |
4.3 本章小结 | 第49-50页 |
结论 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-54页 |
致谢 | 第54页 |