| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-19页 |
| ·红外技术 | 第8-15页 |
| ·红外辐射 | 第8-9页 |
| ·红外探测器 | 第9-12页 |
| ·红外探测系统 | 第12-13页 |
| ·红外技术的应用 | 第13-15页 |
| ·PbS 红外探测器 | 第15-18页 |
| ·概述 | 第15-16页 |
| ·国内外研究动态 | 第16-18页 |
| ·本论文的技术路线及实施方案 | 第18-19页 |
| 第二章 PbS 薄膜的制备和表征 | 第19-30页 |
| ·PbS 薄膜的制备 | 第19-28页 |
| ·基片的清洗、干燥 | 第19-20页 |
| ·反应液的配置 | 第20页 |
| ·PbS 薄膜的沉积 | 第20-21页 |
| ·CBD 法沉积 PbS 薄膜的原理 | 第21-22页 |
| ·PbS 薄膜的高温敏化处理以及敏化理论 | 第22-27页 |
| ·PbS 薄膜的电极 | 第27-28页 |
| ·PbS 薄膜的表征 | 第28-30页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第28-29页 |
| ·扫描电子显微镜分析 | 第29-30页 |
| 第三章 PbS 探测器的制作和主要性能参数测试方法 | 第30-41页 |
| ·PbS 探测器的制作 | 第30-31页 |
| ·PbS 探测器的主要性能参数测试方法 | 第31-41页 |
| ·PbS 探测器的电阻测试 | 第31页 |
| ·PbS 探测器的 I-V 特性和响应时间测试 | 第31-32页 |
| ·光照响应特性测试 | 第32-33页 |
| ·光谱响应特性测试 | 第33-36页 |
| ·电阻温度特性测试 | 第36-38页 |
| ·温度冲击特性测试 | 第38页 |
| ·响应度和探测率测试 | 第38-41页 |
| 第四章 PbS 薄膜的微结构和探测器的主要光电性能 | 第41-53页 |
| ·PbS 薄膜的微结构 | 第41-45页 |
| ·PbS 薄膜的晶体结构 | 第41-43页 |
| ·PbS 薄膜的表面形貌和成分 | 第43-45页 |
| ·PbS 探测器的主要性能参数 | 第45-53页 |
| ·PbS 探测器的电阻 | 第45-46页 |
| ·PbS 探测器的 I-V 特性和响应时间 | 第46-47页 |
| ·PbS 探测器的光照响应特性 | 第47页 |
| ·PbS 探测器的光谱响应特性 | 第47-49页 |
| ·PbS 探测器的电阻-温度特性 | 第49-50页 |
| ·PbS 探测器的温度冲击特性 | 第50-51页 |
| ·黑体响应度和比探测率 | 第51-53页 |
| 第五章 PbS 火焰报警器原型产品的制作和测试 | 第53-59页 |
| ·PbS 火焰报警器原型产品的制作 | 第53-58页 |
| ·PbS 火焰报警器原型的结构 | 第53-54页 |
| ·信号处理电路原理图及分析 | 第54-57页 |
| ·PCB 板的布线和焊接 | 第57-58页 |
| ·PbS 火焰报警器原型产品的测试 | 第58-59页 |
| 第六章 结论 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第64-65页 |