| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题的来源及研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 继电器类单机长贮可靠性研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3 加速贮存试验国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.4 课题国内外文研究现状的分析 | 第12-13页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 继电器类单机加速贮存敏感参数分析 | 第15-30页 |
| 2.1 引言 | 第15页 |
| 2.2 继电器贮存失效机理分析 | 第15-19页 |
| 2.2.1 继电器应力松弛机理分析 | 第15-16页 |
| 2.2.2 继电器接触失效机理分析 | 第16-18页 |
| 2.2.3 继电器贮存失效机理试验分析 | 第18-19页 |
| 2.3 继电器有限元仿真分析 | 第19-26页 |
| 2.3.1 基于UG软件的继电器几何建模 | 第20页 |
| 2.3.2 基于FLUX的继电器静态电磁特性仿真分析 | 第20-22页 |
| 2.3.3 基于ADAMS的机械特性仿真分析 | 第22-24页 |
| 2.3.4 基于联合仿真技术的继电器动态特性求解 | 第24-25页 |
| 2.3.5 继电器应力松弛仿真分析 | 第25-26页 |
| 2.4 继电器类单机Simulink仿真分析 | 第26-27页 |
| 2.5 继电器类单机敏感参数分析 | 第27-28页 |
| 2.6 本章小结 | 第28-30页 |
| 第3章 继电器类单机加速贮存敏感参数测量系统设计 | 第30-40页 |
| 3.1 引言 | 第30页 |
| 3.2 系统总体方案设计 | 第30-31页 |
| 3.3 系统硬件设计 | 第31-36页 |
| 3.3.1 时间参数测量电路 | 第31-34页 |
| 3.3.2 接触电阻测量电路 | 第34-35页 |
| 3.3.3 设备报警系统 | 第35-36页 |
| 3.4 系统下位机软件设计 | 第36-38页 |
| 3.5 系统上位机界面设计 | 第38-39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 继电器类单机加速贮存试验方案设计 | 第40-51页 |
| 4.1 引言 | 第40页 |
| 4.2 总体试验方案设计 | 第40-41页 |
| 4.3 加速贮存试验方法 | 第41-50页 |
| 4.3.1 试验类型选择 | 第41-42页 |
| 4.3.2 加速应力类型与应力水平设计 | 第42-46页 |
| 4.3.3 样本容量设计 | 第46-47页 |
| 4.3.4 加速贮存退化试验采集测试周期设计 | 第47-49页 |
| 4.3.5 加速贮存退化试验电应力加载方式设计 | 第49-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 继电器类单机可靠性评估方法 | 第51-66页 |
| 5.1 引言 | 第51页 |
| 5.2 继电器类单机退化参数贮存试验结果分析 | 第51-53页 |
| 5.3 基于Wiener过程的继电器类单机可靠性建模 | 第53-57页 |
| 5.3.1 Wiener过程的定义 | 第53-54页 |
| 5.3.2 单机参数退化的Wiener过程辨识 | 第54-56页 |
| 5.3.3 单机可靠性建模 | 第56-57页 |
| 5.4 基于贝叶斯方法的Wiener过程模型参数估计 | 第57-61页 |
| 5.4.1 贝叶斯方法的原理 | 第57-59页 |
| 5.4.2 单机先验信息及似然函数 | 第59-60页 |
| 5.4.3 单机退化模型参数的后验分布 | 第60-61页 |
| 5.5 基于退化数据的单机可靠性评估 | 第61-64页 |
| 5.6 本章小结 | 第64-66页 |
| 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
