| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-22页 |
| 1.1 引言 | 第9-10页 |
| 1.2 热障涂层概述 | 第10-13页 |
| 1.2.1 热障涂层的概念及结构 | 第10-11页 |
| 1.2.2 热障涂层的制备工艺 | 第11-13页 |
| 1.2.3 热障涂层的失效 | 第13页 |
| 1.3 热障涂层的复阻抗谱无损检测 | 第13-18页 |
| 1.3.1 热障涂层的无损检测 | 第13-14页 |
| 1.3.2 热障涂层的复阻抗谱无损检测 | 第14-15页 |
| 1.3.3 复阻抗谱原理 | 第15-18页 |
| 1.4 热障涂层复阻抗谱检测的有限元模拟 | 第18-22页 |
| 1.4.1 热障涂层复阻抗谱检测的缺陷 | 第18页 |
| 1.4.2 复阻抗谱检测的有限元模拟 | 第18-19页 |
| 1.4.3 有限元原理 | 第19-22页 |
| 第2章 热障涂层复阻抗谱检测的模型与实验 | 第22-30页 |
| 2.1 热障涂层的有限元模型及结果处理 | 第22-26页 |
| 2.1.1 有限元模型 | 第22-25页 |
| 2.1.2 有限元结果的处理 | 第25-26页 |
| 2.2 热障涂层复阻抗谱测量实验 | 第26-30页 |
| 2.2.1 样品的处理 | 第26页 |
| 2.2.2 复阻抗谱测量实验 | 第26-30页 |
| 第3章 热障涂层复阻抗谱最佳测量条件及拟合参数的确定 | 第30-43页 |
| 3.1 热障涂层复阻抗谱最佳测量条件 | 第30-36页 |
| 3.1.1 测量电压 | 第30-31页 |
| 3.1.2 测量温度 | 第31-33页 |
| 3.1.3 测量电极大小 | 第33-35页 |
| 3.1.4 小结 | 第35-36页 |
| 3.2 热障涂层复阻抗谱拟合参数的确定 | 第36-43页 |
| 3.2.1 YSZ结构对拟合结果的影响 | 第36-39页 |
| 3.2.2 TGO结构对拟合结果的影响 | 第39-41页 |
| 3.2.3 小结 | 第41-43页 |
| 第4章 热障涂层复阻抗谱检测时电场分布及其影响 | 第43-51页 |
| 4.1 测量环境对电场分布的影响 | 第44-46页 |
| 4.1.1 测量电压的影响 | 第44-45页 |
| 4.1.2 测量温度的影响 | 第45-46页 |
| 4.1.3 测量电极大小的影响 | 第46页 |
| 4.2 TBCs结构对电场分布的影响 | 第46-49页 |
| 4.2.1 YSZ结构的影响 | 第46-48页 |
| 4.2.2 TGO结构的影响 | 第48-49页 |
| 4.3 小结 | 第49-51页 |
| 第5章 总结与展望 | 第51-54页 |
| 5.1 工作总结 | 第51-52页 |
| 5.2 工作展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 个人简历 | 第60-61页 |
| 附录A：攻读硕士学位期间发表的专利及学术论文 | 第61页 |