| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-23页 |
| 1.1 引言 | 第17页 |
| 1.2 RFID技术简介 | 第17-19页 |
| 1.2.1 国内外发展现状 | 第18-19页 |
| 1.2.2 RFID技术发展趋势 | 第19页 |
| 1.3 本论文选题背景与设计目标 | 第19-20页 |
| 1.4 论文内容与章节安排 | 第20-23页 |
| 第二章 UHF RFID读写器基本原理和协议分析 | 第23-33页 |
| 2.1 UHF RFID读写器系统基本原理 | 第23-24页 |
| 2.2 ISO/IEC18000-6C/Gen-2 协议的分析和研究 | 第24-32页 |
| 2.2.1 协议的物理层 | 第24-29页 |
| 2.2.2 协议的标签识别层 | 第29-31页 |
| 2.2.3 时序约束 | 第31页 |
| 2.2.4 防冲撞算法 | 第31-32页 |
| 2.3 小结 | 第32-33页 |
| 第三章 读写器数字基带系统设计与仿真验证 | 第33-49页 |
| 3.1 读写器数字基带设计要求 | 第33页 |
| 3.2 数字基带总体结构设计 | 第33-35页 |
| 3.3 数字基带发射链路关键电路设计 | 第35-39页 |
| 3.3.1 升余弦滤波器设计 | 第35-36页 |
| 3.3.2 希尔伯特滤波器设计 | 第36-39页 |
| 3.4 数字基带接收链路关键电路设计 | 第39-45页 |
| 3.4.1 读写器接收链路整体架构 | 第39-40页 |
| 3.4.2 时钟同步和采样电路设计 | 第40-43页 |
| 3.4.3 数据解码和CRC校验电路设计 | 第43-45页 |
| 3.5 数字基带发射链路仿真验证 | 第45-46页 |
| 3.6 数字基带接收链路仿真验证 | 第46-48页 |
| 3.6.1 生成测试向量 | 第46页 |
| 3.6.2 接收链路测试 | 第46-47页 |
| 3.6.3 测试结果分析 | 第47-48页 |
| 3.7 小结 | 第48-49页 |
| 第四章 读写器硬件平台设计和实现 | 第49-65页 |
| 4.1 读写器硬件平台总体硬件架构 | 第49-50页 |
| 4.2 基于FPGA的读写器数字基带电路 | 第50-57页 |
| 4.2.1 FPGA开发平台介绍 | 第50-51页 |
| 4.2.2 FPGA核心配置电路 | 第51-55页 |
| 4.2.3 时钟电路 | 第55-56页 |
| 4.2.4 基带电路对外接口 | 第56-57页 |
| 4.3 AD、DA模块电路设计 | 第57-58页 |
| 4.3.1 AD模块电路设计 | 第57-58页 |
| 4.3.2 DA模块电路设计 | 第58页 |
| 4.4 MCU控制模块电路设计 | 第58-61页 |
| 4.4.1 MCU最小系统电路 | 第58-59页 |
| 4.4.2 MCU程序下载和串口通信电路 | 第59-60页 |
| 4.4.3 MCU接口电路 | 第60-61页 |
| 4.4.4 MCU其他外围电路 | 第61页 |
| 4.5 射频及模拟前端架构设计 | 第61-62页 |
| 4.6 电源管理模块电路设计 | 第62-64页 |
| 4.6.1 LDO和DC/DC电压转换器介绍 | 第62-63页 |
| 4.6.2 DC/DC电源模块与LDO电源模块相结合的电源方案设计 | 第63-64页 |
| 4.7 小结 | 第64-65页 |
| 第五章 读写器协议处理和MCU软件设计 | 第65-77页 |
| 5.1 ISO/IEC18000-6C/Gen-2 协议处理 | 第65-68页 |
| 5.2 软、硬件接口设计 | 第68-71页 |
| 5.2.1 MCU与FPGA通信接口设计 | 第68-69页 |
| 5.2.2 数据帧格式和指令集规划 | 第69-70页 |
| 5.2.3 软硬件协同工作过程 | 第70-71页 |
| 5.3 MCU主程序设计 | 第71-75页 |
| 5.3.1 SPI接口程序 | 第72-73页 |
| 5.3.2 基带处理控制部分 | 第73-74页 |
| 5.3.3 上位机交互程序 | 第74-75页 |
| 5.3.4 射频板功率检测程序 | 第75页 |
| 5.6 小结 | 第75-77页 |
| 第六章 读写器系统测试和分析 | 第77-85页 |
| 6.1 测试方法与测试环境 | 第77-79页 |
| 6.1.1 测试参数与测试方法 | 第77页 |
| 6.1.2 测试样品与测试环境 | 第77-79页 |
| 6.2 测试结果及分析 | 第79-84页 |
| 6.2.1 读写器发射链路测试 | 第79-81页 |
| 6.2.2 读写器接收链路测试 | 第81-83页 |
| 6.2.3 发射接收链路联调测试 | 第83-84页 |
| 6.3 小结 | 第84-85页 |
| 第七章 总结与展望 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-89页 |
| 致谢 | 第89-91页 |
| 作者简介 | 第91-92页 |
