GM-APD 64×64阵列型全集成传感读出电路设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第9-15页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第9-14页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第15-17页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第15-16页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第16-17页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第17-18页 |
| 第二章 阵列型读出电路系统架构设计 | 第18-32页 |
| 2.1 红外传感读出原理 | 第18-21页 |
| 2.1.1 单光子APD检测原理 | 第18页 |
| 2.1.2 阵列APD激光测距系统成像原理 | 第18-20页 |
| 2.1.3 成像系统主要性能要求 | 第20-21页 |
| 2.2 读出电路系统架构与时序设计 | 第21-30页 |
| 2.2.1 读出电路系统架构 | 第21-26页 |
| 2.2.2 读出电路系统架构设计 | 第26-28页 |
| 2.2.3 读出电路系统时序设计 | 第28-30页 |
| 2.3 本章小结 | 第30-32页 |
| 第三章 读出电路设计和实现 | 第32-52页 |
| 3.1 模块电路设计 | 第32-40页 |
| 3.1.1 系统控制模块 | 第32-35页 |
| 3.1.2 同步信号模块 | 第35-39页 |
| 3.1.3 数据读出模块 | 第39页 |
| 3.1.4 TDC模块 | 第39-40页 |
| 3.2 大规模阵列设计与实现 | 第40-48页 |
| 3.2.1 像素电路 | 第40-42页 |
| 3.2.2 像素阵列布局与实现 | 第42-47页 |
| 3.2.3 测试电路 | 第47-48页 |
| 3.3 读出电路系统设计 | 第48-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-52页 |
| 第四章 读出电路系统仿真分析 | 第52-64页 |
| 4.1 仿真环境与条件 | 第52-53页 |
| 4.2 读出电路系统时序及功能仿真 | 第53-58页 |
| 4.2.1 系统功能验证 | 第53-56页 |
| 4.2.2 传输延时分析 | 第56-58页 |
| 4.3 读出电路系统性能仿真 | 第58-63页 |
| 4.3.1 精度1ns仿真验证 | 第58-61页 |
| 4.3.2 精度0.5ns仿真验证 | 第61-63页 |
| 4.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 读出电路芯片测试与分析 | 第64-84页 |
| 5.1 系统版图设计 | 第64-66页 |
| 5.2 测试平台设计 | 第66-74页 |
| 5.2.1 系统测试平台硬件电路设计 | 第66-71页 |
| 5.2.2 系统测试平台搭建 | 第71-74页 |
| 5.3 芯片测试与分析 | 第74-83页 |
| 5.3.1 系统功能测试与分析 | 第74-76页 |
| 5.3.2 系统性能测试与分析 | 第76-79页 |
| 5.3.3 测试结果分析 | 第79-83页 |
| 5.4 本章小结 | 第83-84页 |
| 第六章 总结与展望 | 第84-86页 |
| 6.1 论文总结 | 第84-85页 |
| 6.2 研究展望 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-90页 |
| 致谢 | 第90-92页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第92页 |
