微米级颗粒电阻脉冲检测机理研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-21页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-12页 |
| 1.1.1 颗粒计数及其应用需求 | 第10-11页 |
| 1.1.2 颗粒计数技术 | 第11-12页 |
| 1.2 颗粒电阻脉冲检测技术 | 第12-20页 |
| 1.2.1 检测原理 | 第12-13页 |
| 1.2.2 相关应用研究进展 | 第13-15页 |
| 1.2.3 相关理论研究进展 | 第15-17页 |
| 1.2.4 现有理论存在的不足 | 第17-20页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第20-21页 |
| 第2章 导电颗粒对电阻脉冲检测的影响 | 第21-32页 |
| 2.1 引言 | 第21页 |
| 2.2 颗粒差分RPS检测原理 | 第21-23页 |
| 2.3 实验 | 第23-26页 |
| 2.3.1 实验系统 | 第23页 |
| 2.3.2 差分RPS微流控芯片 | 第23-24页 |
| 2.3.3 颗粒样品及加注方式 | 第24-25页 |
| 2.3.4 实验步骤 | 第25-26页 |
| 2.4 结果与讨论 | 第26-31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 颗粒形状对电阻脉冲检测的影响 | 第32-45页 |
| 3.1 引言 | 第32页 |
| 3.2 微通道及数学模型 | 第32-37页 |
| 3.2.1 微通道结构和颗粒 | 第32-33页 |
| 3.2.2 电场和电流 | 第33-34页 |
| 3.2.3 数值模拟 | 第34-37页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第37-44页 |
| 3.3.1 颗粒形状的影响 | 第37-39页 |
| 3.3.2 扁长形颗粒方向角度的影响 | 第39-42页 |
| 3.3.3 扁圆形颗粒方向角度的影响 | 第42-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 通道形状对电阻脉冲检测的影响 | 第45-52页 |
| 4.1 引言 | 第45页 |
| 4.2 微通道及数学模型 | 第45-47页 |
| 4.2.1 微通道结构和颗粒 | 第45-46页 |
| 4.2.2 数学模型 | 第46页 |
| 4.2.3 数值模拟 | 第46-47页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第47-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 结论与展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-62页 |
| 攻读学位期间公开发表论文 | 第62页 |
| 授权的发明专利 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 作者简介 | 第65页 |
