LTE信道估计的设计与实现
摘要 | 第3-4页 |
abstract | 第4-5页 |
注释表 | 第12-14页 |
第1章 绪论 | 第14-20页 |
1.1 研究背景与研究意义 | 第14-15页 |
1.2 研究现状 | 第15-18页 |
1.2.1 矢量信号测试与分析仪的技术研究现状 | 第15-16页 |
1.2.2 信道估计研究现状 | 第16-18页 |
1.3 主要研究工作与章节安排 | 第18-20页 |
第2章 基础知识 | 第20-44页 |
2.1 LTE系统物理层介绍 | 第20-27页 |
2.1.1 帧结构 | 第20-21页 |
2.1.2 时隙结构 | 第21-23页 |
2.1.3 物理信道和物理信号 | 第23-24页 |
2.1.4 LTE上、下行参考信号 | 第24-25页 |
2.1.5 LTE上、下行技术对比 | 第25-27页 |
2.2 多径衰落信道 | 第27-31页 |
2.2.1 多径时延扩展 | 第28-30页 |
2.2.2 多普勒扩展 | 第30-31页 |
2.3 加性高斯白噪声信道 | 第31-32页 |
2.4 LTE中的OFDM技术 | 第32-39页 |
2.4.1 OFDM调制解调原理 | 第33-35页 |
2.4.2 OFDM系统时频资源分配 | 第35-36页 |
2.4.3 LTE抗多径分析 | 第36-38页 |
2.4.4 多普勒频移对LTE影响分析 | 第38-39页 |
2.4.5 白噪声对LTE的影响分析 | 第39页 |
2.5 EVM介绍 | 第39-42页 |
2.5.1 EVM基本概念 | 第40-41页 |
2.5.2 噪声影响 | 第41-42页 |
2.5.3 EVM测试要求 | 第42页 |
2.6 本章小结 | 第42-44页 |
第3章 LTE信道估计算法研究 | 第44-62页 |
3.1 信道数学模型 | 第44-45页 |
3.2 导频位置信道估计算法 | 第45-49页 |
3.2.1 LS算法 | 第45-46页 |
3.2.2 MMSE算法 | 第46-49页 |
3.3 变换域去噪算法 | 第49-54页 |
3.3.1 DFT去噪算法 | 第50-52页 |
3.3.2 DCT去噪算法 | 第52-54页 |
3.4 小波变换去噪算法 | 第54-57页 |
3.5 数据子载波插值算法 | 第57-60页 |
3.5.1 线性插值算法 | 第58页 |
3.5.2 拉格朗日插值法 | 第58-59页 |
3.5.3 DCT插值算法 | 第59-60页 |
3.6 本章小结 | 第60-62页 |
第4章 算法验证分析 | 第62-76页 |
4.1 LTE下行链路基带等效模型搭建 | 第62-63页 |
4.2 验证参数设计 | 第63-65页 |
4.3 验证结果分析 | 第65-74页 |
4.3.1 信道作用分析 | 第65-68页 |
4.3.2 LS和LMMSE算法性能分析 | 第68-69页 |
4.3.3 变换域算法性能分析 | 第69-72页 |
4.3.4 插值算法性能分析 | 第72页 |
4.3.5 EVM分析 | 第72-74页 |
4.3.6 最终选取的信道估计算法 | 第74页 |
4.4 本章小结 | 第74-76页 |
第5章 矢量信号测试分析仪信道估计模块实现 | 第76-88页 |
5.1 系统设计 | 第76-78页 |
5.1.1 矢量分析软件整体技术要求 | 第76-77页 |
5.1.2 LTE测试与分析系统结构 | 第77-78页 |
5.2 信道估计实现方案 | 第78-81页 |
5.2.1 数据后处理模块 | 第78-80页 |
5.2.2 参考信号的资源粒子映射描述 | 第80页 |
5.2.3 参考符号的提取过程描述 | 第80-81页 |
5.2.4 导频处LS估计模块 | 第81页 |
5.3 信道估计算法设计 | 第81-85页 |
5.3.1 导频位置去噪模块 | 第82-83页 |
5.3.2 数据位置插值模块 | 第83-85页 |
5.4 测试指标与结果分析 | 第85-87页 |
5.4.1 测试指标 | 第85页 |
5.4.2 测试结果分析 | 第85-87页 |
5.5 本章小结 | 第87-88页 |
第6章 总结与展望 | 第88-89页 |
参考文献 | 第89-93页 |
附录A LTE信道估计功能代码 | 第93-105页 |
附录B 矢量信号测试分析仪测试环境 | 第105-107页 |
致谢 | 第107-108页 |
攻读硕士学位期间从事的科研工作及取得的成果 | 第108页 |