摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 引言 | 第8-16页 |
1.1 课题来源 | 第8页 |
1.2 研究背景及意义 | 第8-9页 |
1.3 国内外研究现状 | 第9-14页 |
1.3.1 三维测量技术研究现状 | 第9-10页 |
1.3.2 被动式三维测量研究现状 | 第10-11页 |
1.3.3 主动式三维测量研究现状 | 第11-14页 |
1.4 本文的主要研究工作 | 第14-15页 |
1.5 本章小结 | 第15-16页 |
第2章 光栅测量系统模型 | 第16-31页 |
2.1 光栅三维投影测量系统构成 | 第16-17页 |
2.2 传统光栅三维投影测量系统的原理 | 第17-21页 |
2.2.1 数字投影仪和参考平面的关系 | 第18-19页 |
2.2.2 CCD相机和参考平面的关系 | 第19-20页 |
2.2.3 经典测量系统的标定方法 | 第20-21页 |
2.3 无严格垂直平行的光栅投影测量系统 | 第21-25页 |
2.3.1 无严格垂直平行的光栅测量系统原理 | 第21-23页 |
2.3.2 无严格垂直平行的测量系统的标定方法 | 第23-25页 |
2.4 开放位置关系的光栅投影测量系统 | 第25-29页 |
2.4.1 开放位置关系的光栅测量系统模型 | 第25-26页 |
2.4.2 相位-相机三维坐标系间的关系 | 第26-27页 |
2.4.3 像点-相机三维坐标系间的关系 | 第27-29页 |
2.5 本章小结 | 第29-31页 |
第3章 基于多尺度光栅条纹的构造与扫描 | 第31-45页 |
3.1 结构光投影测量系统编码方式 | 第31-34页 |
3.1.1 空间编码法 | 第31-32页 |
3.1.2 时间编码法 | 第32-34页 |
3.2 光栅条纹的构造 | 第34-36页 |
3.2.1 传统光栅条纹构造原理 | 第34-35页 |
3.2.2 数字光栅条纹构造原理 | 第35-36页 |
3.3 光栅条纹的相移扫描方法 | 第36-39页 |
3.3.1 相移扫描原理及算法选取 | 第36-37页 |
3.3.2 相移扫描步距的选取 | 第37-39页 |
3.4 单尺度光栅条纹的相移扫描测量 | 第39-43页 |
3.4.1 单尺度光栅条纹相移扫描测量缺陷 | 第39-40页 |
3.4.2 测量缺陷的解决——多尺度条纹测量的提出 | 第40-43页 |
3.5 本章小结 | 第43-45页 |
第4章 基于正弦拟合的多级次相位解调算法 | 第45-65页 |
4.1 基于傅里叶变换的包裹相位快速提取算法 | 第45-47页 |
4.2 包裹相位解调算法 | 第47-58页 |
4.2.1 行列逐点的相位展开算法 | 第47-51页 |
4.2.2 基于外差原理的多尺寸相位展开算法 | 第51-54页 |
4.2.3 多尺寸逐级校正相位展开算法 | 第54-58页 |
4.3 剔除误差点的正弦拟合方法 | 第58-64页 |
4.4 本章小结 | 第64-65页 |
第5章 开放位置结构系统的标定 | 第65-72页 |
5.1 开放位置系统的相位-高度映射关系 | 第65-66页 |
5.2 开放位置系统世界坐标系-图像坐标系的映射关系 | 第66-70页 |
5.3 全局隐式参数标定方法 | 第70-71页 |
5.4 本章小结 | 第71-72页 |
第6章 总结与展望 | 第72-74页 |
6.1 全文总结 | 第72-73页 |
6.2 课题展望 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-79页 |
附录1 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第79页 |