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多尺度正弦光栅投影扫描测量的研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 引言第8-16页
    1.1 课题来源第8页
    1.2 研究背景及意义第8-9页
    1.3 国内外研究现状第9-14页
        1.3.1 三维测量技术研究现状第9-10页
        1.3.2 被动式三维测量研究现状第10-11页
        1.3.3 主动式三维测量研究现状第11-14页
    1.4 本文的主要研究工作第14-15页
    1.5 本章小结第15-16页
第2章 光栅测量系统模型第16-31页
    2.1 光栅三维投影测量系统构成第16-17页
    2.2 传统光栅三维投影测量系统的原理第17-21页
        2.2.1 数字投影仪和参考平面的关系第18-19页
        2.2.2 CCD相机和参考平面的关系第19-20页
        2.2.3 经典测量系统的标定方法第20-21页
    2.3 无严格垂直平行的光栅投影测量系统第21-25页
        2.3.1 无严格垂直平行的光栅测量系统原理第21-23页
        2.3.2 无严格垂直平行的测量系统的标定方法第23-25页
    2.4 开放位置关系的光栅投影测量系统第25-29页
        2.4.1 开放位置关系的光栅测量系统模型第25-26页
        2.4.2 相位-相机三维坐标系间的关系第26-27页
        2.4.3 像点-相机三维坐标系间的关系第27-29页
    2.5 本章小结第29-31页
第3章 基于多尺度光栅条纹的构造与扫描第31-45页
    3.1 结构光投影测量系统编码方式第31-34页
        3.1.1 空间编码法第31-32页
        3.1.2 时间编码法第32-34页
    3.2 光栅条纹的构造第34-36页
        3.2.1 传统光栅条纹构造原理第34-35页
        3.2.2 数字光栅条纹构造原理第35-36页
    3.3 光栅条纹的相移扫描方法第36-39页
        3.3.1 相移扫描原理及算法选取第36-37页
        3.3.2 相移扫描步距的选取第37-39页
    3.4 单尺度光栅条纹的相移扫描测量第39-43页
        3.4.1 单尺度光栅条纹相移扫描测量缺陷第39-40页
        3.4.2 测量缺陷的解决——多尺度条纹测量的提出第40-43页
    3.5 本章小结第43-45页
第4章 基于正弦拟合的多级次相位解调算法第45-65页
    4.1 基于傅里叶变换的包裹相位快速提取算法第45-47页
    4.2 包裹相位解调算法第47-58页
        4.2.1 行列逐点的相位展开算法第47-51页
        4.2.2 基于外差原理的多尺寸相位展开算法第51-54页
        4.2.3 多尺寸逐级校正相位展开算法第54-58页
    4.3 剔除误差点的正弦拟合方法第58-64页
    4.4 本章小结第64-65页
第5章 开放位置结构系统的标定第65-72页
    5.1 开放位置系统的相位-高度映射关系第65-66页
    5.2 开放位置系统世界坐标系-图像坐标系的映射关系第66-70页
    5.3 全局隐式参数标定方法第70-71页
    5.4 本章小结第71-72页
第6章 总结与展望第72-74页
    6.1 全文总结第72-73页
    6.2 课题展望第73-74页
致谢第74-75页
参考文献第75-79页
附录1 攻读硕士学位期间发表的学术论文第79页

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