葡萄根和枝条抗寒性能测试仪的研制与试验
| 中文摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 1 引言 | 第9-15页 |
| ·研究背景和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-14页 |
| ·葡萄种植历史 | 第10页 |
| ·葡萄种植的分布 | 第10-12页 |
| ·葡萄的研究现状 | 第12-13页 |
| ·葡萄的抗寒性发展 | 第13-14页 |
| ·课题主要研究内容 | 第14-15页 |
| 2 总体方案的设计 | 第15-35页 |
| ·试验平台的设计 | 第15-16页 |
| ·硬件控制系统的设计 | 第16-35页 |
| ·STM32 单片机概述 | 第17-21页 |
| ·单片机性能 | 第17-18页 |
| ·单片机各部分性能的作用 | 第18-21页 |
| ·RS232 串口通信模块的设计 | 第21-22页 |
| ·电源模块的设计 | 第22-23页 |
| ·传感器模块的设计 | 第23-26页 |
| ·温度传感器和热电模块传感器 | 第23-26页 |
| ·温度传感器的标定 | 第26页 |
| ·信号放大系统的设计 | 第26-29页 |
| ·热电模块放大器的设计 | 第26-28页 |
| ·温度放大器模块的设计 | 第28-29页 |
| ·A/D 采集模块的设计 | 第29-32页 |
| ·AD586 稳压电路的设计 | 第29-30页 |
| ·ADS8344 采集模块的设计 | 第30-32页 |
| ·SD 卡存储模块的设计 | 第32-33页 |
| ·SD 卡 SPI 模式 | 第32页 |
| ·SD 卡的通信 | 第32-33页 |
| ·液晶显示模块的设计 | 第33-34页 |
| ·温度控制器模块 | 第34-35页 |
| 3 软件系统图 | 第35-38页 |
| ·嵌入式系统设计 | 第35-36页 |
| ·单片机工作框图 | 第36页 |
| ·A/D 程序框图 | 第36页 |
| ·上位机程序设计 | 第36-38页 |
| 4 试验结果 | 第38-42页 |
| ·试验方法 | 第38-40页 |
| ·数据处理分析 | 第40-42页 |
| 5 其他方法测定葡萄抗寒性 | 第42-50页 |
| ·低温冷冻对电导率及褐变率的影响 | 第42页 |
| ·相对电导率的测定 | 第42页 |
| ·褐变率的测定 | 第42页 |
| ·数据分析 | 第42页 |
| ·结果与分析 | 第42-45页 |
| ·威代尔枝条的 LT -1 分析 | 第42-44页 |
| ·枝条 LT -1 分析方法准确性的验证 | 第44-45页 |
| ·不同品种葡萄枝条抗寒性的比较 | 第45-48页 |
| ·LT - I 比较枝条抗寒性的可靠性 | 第48-49页 |
| ·结果比较 | 第49-50页 |
| 6 结论 | 第50-51页 |
| ·创新点 | 第50页 |
| ·建议 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 硕士研究生期间发表论文 | 第57-58页 |
| 附录 | 第58-67页 |
