摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-21页 |
·研究目的和意义 | 第9-11页 |
·光学三维面形测量的基本概念及方法 | 第11-18页 |
·被动三维面形测量 | 第11-12页 |
·主动三维面形测量 | 第12-18页 |
·漫反射物体形貌测量 | 第12-16页 |
·镜面物体形貌测量 | 第16-18页 |
·基于条纹投影和条纹反射的三维测量方法研究进展 | 第18-19页 |
·本文主要研究内容 | 第19-21页 |
第二章 基于相移的相位分析方法 | 第21-35页 |
·相移测量技术 | 第21-31页 |
·相位解调算法 | 第22-24页 |
·相移标定算法 | 第24-25页 |
·IIC 矩阵法用于铌酸锂电光相位调制器相位调制特性检测 | 第25-31页 |
·帧间强度相关矩阵法(IIC) | 第25-27页 |
·铌酸锂电光相位调制器 | 第27-28页 |
·相位调制特性的检测 | 第28-31页 |
·相位展开方法 | 第31-34页 |
·空间相位展开方法 | 第31-32页 |
·时间相位展开方法 | 第32-34页 |
·本章总结 | 第34-35页 |
第三章 基于数字点阵投影的彩色复合光栅编码方法 | 第35-46页 |
·传统空间相位展开方法的困难 | 第35-37页 |
·基于数字点阵投影的三维面形测量方法 | 第37-39页 |
·基于数字点阵投影的彩色复合光栅编码方法 | 第39-45页 |
·彩色复合光栅 | 第39-40页 |
·基于可靠度排序和数字点阵投影的相位展开方法 | 第40-43页 |
·实验结果与分析 | 第43-45页 |
·本章总结 | 第45-46页 |
第四章 基于条纹反射的类平面镜面物体测量方法 | 第46-67页 |
·基于条纹反射的类平面镜面物体测量方法 | 第46-53页 |
·基本原理 | 第46-49页 |
·相位标定 | 第49-50页 |
·系统灵敏度和物理极限 | 第50-53页 |
·物体表面曲率分布的计算 | 第53-54页 |
·物体三维面形重建 | 第54-61页 |
·傅里叶变换积分法 | 第55-57页 |
·区域波前重构法 | 第57-61页 |
·多尺度三维形貌分析方法 | 第61-66页 |
·Savitzky-Golay 滤波 | 第63-64页 |
·带通滤波 | 第64-66页 |
·本章总结 | 第66-67页 |
第五章 基于条纹反射的类平面镜面物体测量实验研究 | 第67-91页 |
·实验装置与系统搭建 | 第67页 |
·实验过程与结果分析 | 第67-78页 |
·实验(一)类平面镜面物体三维面形重建精度的研究 | 第68-70页 |
·实验(二)高反射率手机外壳表面加工质量的检测 | 第70-78页 |
·手机外壳形貌多尺度分解 | 第73-75页 |
·手机外壳微观形貌检测 | 第75-78页 |
·实验误差分析 | 第78-89页 |
·待测物体摆放位置偏差的研究 | 第78-81页 |
·远心光路近似条件对载频参考相位影响的研究 | 第81-88页 |
·类平面镜面物体解析模型测量精度和适用范围的研究 | 第88-89页 |
·本章总结 | 第89-91页 |
第六章 结论和展望 | 第91-94页 |
·本论文研究总结 | 第91-93页 |
·前景展望 | 第93-94页 |
致谢 | 第94-95页 |
参考文献 | 第95-102页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第102-103页 |