改进的微粒群算法在半导体最终测试批处理调度模型中的应用

摘要	第1-7页
Abstract	第7-10页
第1章 绪论	第10-16页
·选题的背景及意义	第10页
·国内外研究现状	第10-15页
·半导体最终测试阶段批处理机调度问题特点	第10-11页
·半导体最终测试阶段批处理机调度的研究方法	第11-15页
·本文研究的主要内容	第15-16页
第2章 微粒群算法的基本原理和研究进展	第16-27页
·引言	第16页
·微粒群算法产生的背景	第16-17页
·微粒群算法	第17-27页
·微粒群算法的原理	第17-21页
·几种改进的微粒群算法	第21-23页
·基本微粒群算法流程	第23-24页
·微粒群算法的主要应用	第24-25页
·微粒群算法的发展趋势	第25-27页
第3章 半导体最终测试阶段单批处理机调度算法研究	第27-45页
·工件同时到达的单批处理机调度	第27-38页
·工件同时到达的单批处理机调度模型	第27-28页
·求解该问题的交叉微粒群算法	第28-29页
·微粒适应度的计算	第29-32页
·该模型的仿真试验结果对比	第32-38页
·工件动态到达的单批处理机调度	第38-45页
·工件动态到达的单批处理机调度模型	第38-39页
·求解该问题的交叉微粒群算法	第39页
·该模型的仿真试验结果对比	第39-45页
第4章 半导体测试中的并行批处理机优化算法研究	第45-58页
·工件同时到达的并行双批处理机调度问题研究	第45-51页
·工件同时到达的并行双批处理机调度问题模型	第45-46页
·求解该问题的交叉微粒群算法	第46页
·该模型的仿真试验结果对比	第46-51页
·工件动态到达的并行双批处理机调度问题研究	第51-58页
·工件动态到达的并行双批处理机调度问题模型	第51-52页
·求解该问题的交叉微粒群算法	第52-53页
·该模型的仿真试验结果比较	第53-58页
结论	第58-60页
致谢	第60-61页
参考文献	第61-64页