用于面曝光快速成形系统的辐照度测量系统研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
1 绪论 | 第10-16页 |
·引言 | 第10页 |
·课题来源、研究背景及研究意义 | 第10-13页 |
·课题来源 | 第10-11页 |
·课题研究背景 | 第11-12页 |
·课题研究意义 | 第12-13页 |
·辐射度量的测量现状与发展方向 | 第13-15页 |
·主要的研究内容和章节安排 | 第15-16页 |
2 辐照度测量系统的工作原理 | 第16-24页 |
·面曝光快速成形系统工作原理及组成 | 第16-17页 |
·光学中辐射度量的基本介绍 | 第17-19页 |
·光源相对光谱能量分布测量及分析 | 第19-22页 |
·辐照度测量原理 | 第22-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
3 辐照度测量系统硬件设计 | 第24-42页 |
·硬件系统总体方案设计 | 第24-25页 |
·光电传感器的选型及特性分析 | 第25-29页 |
·硅光电池工作原理 | 第25-26页 |
·硅光电池的基本特性 | 第26-28页 |
·硅光电池BPW34B 性能介绍 | 第28-29页 |
·主控MCU 模块介绍 | 第29-32页 |
·主控MCU 的选择及特性 | 第29-30页 |
·AVR 单片机程序下载 | 第30-32页 |
·增益可调放大电路设计 | 第32-35页 |
·放大电路增益调整的原理及实现方法 | 第32-34页 |
·运算放大器的选型 | 第34页 |
·放大电路的设计 | 第34-35页 |
·温湿度测量电路设计 | 第35-37页 |
·系统电源电路设计 | 第37-38页 |
·液晶显示电路 | 第38页 |
·键盘接口电路 | 第38-39页 |
·串行通信接口的设计 | 第39-40页 |
·硬件系统实物展示 | 第40-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
4 系统下位机软件设计 | 第42-62页 |
·系统软件的总体设计 | 第42页 |
·下位机编程语言与编程环境 | 第42-43页 |
·系统下位机程序设计 | 第43-54页 |
·增益调整程序 | 第43-45页 |
·A/D 转换程序 | 第45-47页 |
·温湿度采集程序 | 第47-49页 |
·软件滤波程序 | 第49-51页 |
·数据收发程序 | 第51-52页 |
·EEPROM 读写程序 | 第52-53页 |
·显示程序 | 第53-54页 |
·键盘控制程序 | 第54页 |
·辐照度测量系统的标度变换 | 第54-61页 |
·参数标度变换原理 | 第54-55页 |
·辐照度参数的标度变换 | 第55-60页 |
·温湿度的标度变换 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
5 系统上位机软件设计 | 第62-75页 |
·上位机开发环境介绍 | 第62页 |
·上位机串行通信方法介绍 | 第62-64页 |
·上位机程序框架设计 | 第64-71页 |
·上位机串口驱动程序 | 第65-67页 |
·上位机请求信号发送程序 | 第67-68页 |
·上位机数据接收程序 | 第68-69页 |
·上位机数据处理程序 | 第69-70页 |
·通信界面功能介绍 | 第70-71页 |
·系统现场测试与分析 | 第71-74页 |
·辐照度现场测量 | 第71-73页 |
·温度/湿度现场测量 | 第73页 |
·上位机现场运行 | 第73-74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
6 总结 | 第75-77页 |
·工作总结 | 第75页 |
·设计中存在的不足 | 第75-77页 |
参考文献 | 第77-81页 |
附录 | 第81-82页 |
攻读学位期间发表文章 | 第82-83页 |
致谢 | 第83页 |