基于序列图像的二维超分辨率重构技术研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章.绪论 | 第7-12页 |
| §1.1 课题背景 | 第7页 |
| §1.2 国内外发展现状 | 第7-10页 |
| §1.3 本课题研究的内容 | 第10-12页 |
| 第二章.超分辨率成像的算法 | 第12-24页 |
| §2.1 凸集投影重构算法POCS | 第13-14页 |
| §2.2 迭代反投影方法 | 第14-15页 |
| §2.3 Bayes分析法 | 第15-17页 |
| §2.4 反演解析法 | 第17-24页 |
| §2.4.1 反演解析法理论 | 第17-19页 |
| §2.4.2 反演解析法仿真实验 | 第19-24页 |
| 第三章.图像超分辨率重构系统设计 | 第24-43页 |
| §3.1 光电成像器件的选择和使用 | 第25-31页 |
| §3.1.1 常用CCD类型 | 第25-30页 |
| §3.1.2 实验中采用的CCD | 第30-31页 |
| §3.2 图像采集卡 | 第31-32页 |
| §3.3 微位移机构的设计 | 第32-36页 |
| §3.3.1 晶体折射分光结构 | 第32-33页 |
| §3.3.2 压电陶瓷微位移结构 | 第33-36页 |
| §3.4 电压控制电路及程序实现 | 第36-43页 |
| §3.4.1 单片机及数字电路 | 第36-37页 |
| §3.4.2 RS232串口通信电路 | 第37-38页 |
| §3.4.3 后端高压放大电路 | 第38-40页 |
| §3.4.4 电压控制程序 | 第40-43页 |
| 第四章.超分辨率成像的算法实现 | 第43-58页 |
| §4.1 压电陶瓷位移定标 | 第43-47页 |
| §4.2 图像预处理 | 第47-50页 |
| §4.2.1 噪声去除 | 第47-49页 |
| §4.2.2 直方图灰度均衡 | 第49-50页 |
| §4.3 提高分辨率实验 | 第50-58页 |
| §4.3.1 对分辨率标板拍摄实验 | 第50-55页 |
| §4.3.2 对实物拍摄实验 | 第55-58页 |
| 第五章.图像质量评价方法 | 第58-70页 |
| §5.1 图像质量的主观评价方法 | 第58-59页 |
| §5.2 需要参考图像的质量评价方法 | 第59-63页 |
| §5.2.1 MSE和PSNR算法 | 第59-60页 |
| §5.2.2 HVS评价算法 | 第60-63页 |
| §5.3 无需参考图像的质量评价算法 | 第63-66页 |
| §5.3.1 图像清晰度函数 | 第63页 |
| §5.3.2 方差算法 | 第63-64页 |
| §5.3.3 点锐度算法 | 第64页 |
| §5.3.4 基于ROI的图像质量评价方法 | 第64-66页 |
| §5.4 对实验结果的评价 | 第66-70页 |
| 第六章.总结和展望 | 第70-73页 |
| §6.1 本文的总结 | 第70页 |
| §6.2 未来的工作和展望 | 第70-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
