| 第1章 绪论 | 第1-21页 |
| 1．1 概述 | 第11-16页 |
| 1．1．1 声子晶体的概念和基本特性 | 第11-12页 |
| 1．1．2 声子晶体、半导体及光子晶体的特征比较 | 第12-13页 |
| 1．1．3 声子晶体禁带机理 | 第13-14页 |
| 1．1．4 声子晶体的制备 | 第14-15页 |
| 1．1．5 声子晶体的应用前景 | 第15-16页 |
| 1．2 课题研究的背景和意义 | 第16-17页 |
| 1．3 国内外的研究现状 | 第17-20页 |
| 1．3．1 国外研究现状 | 第18-19页 |
| 1．3．2 国内研究现状 | 第19-20页 |
| 1．4 本论文的主要工作 | 第20-21页 |
| 第2章 平面波展开法 | 第21-32页 |
| 2．1 声子晶体能带结构的数值计算方法 | 第21-22页 |
| 2．2 二维声子晶体理论框架的建立 | 第22-25页 |
| 2．2．1 声波波动方程 | 第22-23页 |
| 2．2．2 周期结构的布洛赫定理 | 第23-25页 |
| 2．3 算法的执行 | 第25-31页 |
| 2．3．1 傅立叶变换系数ζ(G|-)的获取 | 第26-28页 |
| 2．3．2 几种常用“原子”的结构因子 | 第28-30页 |
| 2．3．3 傅立叶变换的平移特性 | 第30页 |
| 2．3．4 执行步骤 | 第30-31页 |
| 2．4 本章小节 | 第31-32页 |
| 第3章 二维声子晶体能带结构特性 | 第32-47页 |
| 3．1 参数对带隙的影响 | 第32-37页 |
| 3．1．1 影响能带结构的参数 | 第32页 |
| 3．1．2 基本的晶格结构 | 第32-34页 |
| 3．1．3 “原子”的填充系数 | 第34-35页 |
| 3．1．4 “原子”的形状 | 第35-36页 |
| 3．1．5 声学常数的比率 | 第36-37页 |
| 3．2 二维声子晶体带隙特性 | 第37-45页 |
| 3．2．1 能带结构(PBG) | 第39-41页 |
| 3．2．2 带隙分布图 | 第41-42页 |
| 3．2．3 态密度(DOS) | 第42-43页 |
| 3．2．4 结构参数对各晶格相对带宽的影响 | 第43-45页 |
| 3．3 本章小节 | 第45-47页 |
| 第4章 二维声子晶体的缺陷态 | 第47-60页 |
| 4．1 点缺陷 | 第47-51页 |
| 4．1．1 存在点缺陷的声子晶体能带结构 | 第47-48页 |
| 4．1．2 微扰“原子”尺寸对缺陷态的影响 | 第48-49页 |
| 4．1．3 填充系数对缺陷态的影响 | 第49-50页 |
| 4．1．4 点缺陷的声压场分布 | 第50-51页 |
| 4．2 线缺陷 | 第51-54页 |
| 4．2．1 存在线缺陷的声子晶体能带结构 | 第51-52页 |
| 4．2．2 线缺陷的声压场分布 | 第52-54页 |
| 4．3 同质位错结 | 第54-58页 |
| 4．3．1 横向位错结 | 第54-56页 |
| 4．3．2 纵向位错结 | 第56-58页 |
| 4．4 本章小结 | 第58-60页 |
| 第5章 二维声子晶体异质结的界面态 | 第60-74页 |
| 5．1 SCSC异质结 | 第60-69页 |
| 5．1．1 原异质结特性 | 第62-64页 |
| 5．1．2 横向拉开效应 | 第64-66页 |
| 5．1．3 侧向滑移效应 | 第66-68页 |
| 5．1．4 横向拉开与侧向滑移的共同作用 | 第68-69页 |
| 5．2 SCSS异质结 | 第69-71页 |
| 5．3 RRTC异质结 | 第71-72页 |
| 5．4 本章小节 | 第72-74页 |
| 结论 | 第74-77页 |
| 参考文献 | 第77-83页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 附录A 论文1 付印中(物理学报) | 第85-95页 |
| 附录B 论文2 已投寄(Physical Review E) | 第95-105页 |
| 附录C 论文3 已投寄(Physical Review Letter) | 第105-111页 |