第一章 绪论 | 第1-19页 |
·惯性约束聚变驱动系统概述 | 第8-12页 |
·惯性约束核聚变工程 | 第8-9页 |
·激光聚变基本概念 | 第9-10页 |
·ICF物理对激光驱动器的基本要求 | 第10-11页 |
·ICF激光驱动器的基本结构 | 第11-12页 |
·ICF系统中的光学元件 | 第12-13页 |
·ICF中光学元件光学质量评价及其关键评价指标 | 第13-15页 |
·本论文的主要研究工作 | 第15-17页 |
参考文献 | 第17-19页 |
第二章 长焦距透镜在ICF驱动系统中的作用及其像质评价方法 | 第19-30页 |
·长焦距透镜在ICF驱动系统中的作用 | 第19-22页 |
·当前长焦距透镜像质评价的主要方法 | 第22-26页 |
·本章小结 | 第26-28页 |
参考文献 | 第28-30页 |
第三章 温度场的变化对长焦距测量仪精度的影响 | 第30-37页 |
·温度对长焦距测量仪精度影响的理论分析 | 第30-32页 |
·影响因数分析 | 第32-33页 |
·实验论证 | 第33-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
参考文献 | 第36-37页 |
第四章 球面长焦距透镜焦斑模型的分析 | 第37-44页 |
·理想球面透镜的焦斑二维轮廓及其特性 | 第37-39页 |
·透镜局部面形所对应的焦斑模型的数学近似处理 | 第39-40页 |
·大口径理想球面透镜的厚度函数 | 第40-41页 |
·焦斑模型数学近式处理后的透镜厚度函数 | 第41-42页 |
·本章小结 | 第42-43页 |
参考文献 | 第43-44页 |
第五章 基于光栅泰伯效应子孔径扫描的长焦距光学镜面检测技术研究 | 第44-63页 |
·子孔径扫描检测技术的基本原理 | 第44-50页 |
·检测方法的设计思想 | 第44-45页 |
·环带像差的计算 | 第45-46页 |
·一个子孔径区域面形检测的原理模型 | 第46-48页 |
·各个子孔径拼接原理 | 第48-50页 |
·精度分析 | 第50-55页 |
·检测实验平台的设计 | 第55-57页 |
·基于光栅泰伯效应的子孔径扫描检测实验研究 | 第57-60页 |
·本章小结 | 第60-62页 |
参考文献 | 第62-63页 |
第六章 总结 | 第63-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
附录 | 第66-67页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66-67页 |
独创性声明 | 第67页 |
学位论文版权使用授权书 | 第67页 |