| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-11页 |
| §1.1 课题背景及意义 | 第6-8页 |
| §1.1.1 光电检测技术的发展状况 | 第6-7页 |
| §1.1.2 光电特性综合测试实验系统特点及开发意义 | 第7-8页 |
| §1.2 本论文的研究工作 | 第8-10页 |
| 参考文献 | 第10-11页 |
| 第二章 光电技术理论基础 | 第11-20页 |
| §2.1 光谱仪器 | 第11-12页 |
| §2.2 光栅基础 | 第12-14页 |
| §2.3 光栅单色仪重要参数 | 第14页 |
| §2.4 光电探测器的主要特性 | 第14-19页 |
| 参考文献 | 第19-20页 |
| 第三章 光电特性综合测试实验系统总体设计 | 第20-29页 |
| §3.1 系统性能指标参数 | 第20-21页 |
| §3.2 系统总体结构设计 | 第21-28页 |
| §3.2.1 光学系统的选择 | 第21-22页 |
| §3.2.2 探测器的选择 | 第22-23页 |
| §3.2.3 数据采集、A／D转换及通信 | 第23-26页 |
| §3.2.4 计算机和编程语言的选择 | 第26-28页 |
| 参考文献 | 第28-29页 |
| 第四章 光电探测器及偏置、输出电路 | 第29-49页 |
| §4.1 光电倍增管 | 第29-33页 |
| §4.1.1 光电倍增管工作原理 | 第29-30页 |
| §4.1.2 高压供电 | 第30-32页 |
| §4.1.3 信号输出 | 第32-33页 |
| §4.2 光敏电阻 | 第33-35页 |
| §4.2.1 光敏电阻的工作原理 | 第33页 |
| §4.2.2 光敏电阻的基本偏置电路和噪声 | 第33-35页 |
| §4.3 硅光电池 | 第35-37页 |
| §4.4 硅光电二极管 | 第37-39页 |
| §4.5 硅光电三极管(又称光电晶体管) | 第39-40页 |
| §4.6 雪崩光电二极管(APD) | 第40-43页 |
| §4.6.1 工作原理及结构 | 第40-41页 |
| §4.6.2 倍增因子M和噪声 | 第41-43页 |
| §4.7 光电器件与集成运算放大器的连接 | 第43-45页 |
| §4.7.1 电流放大型 | 第43-44页 |
| §4.7.2 电压放大型 | 第44页 |
| §4.7.3 阻抗变换型 | 第44-45页 |
| §4.8 光电特性综合测试实验系统的信号输出电路 | 第45-48页 |
| 参考文献 | 第48-49页 |
| 第五章 系统软件设计 | 第49-56页 |
| §5.1 简介 | 第49页 |
| §5.2 工作原理 | 第49页 |
| §5.3 数据结构 | 第49-51页 |
| §5.4 程序框架 | 第51-52页 |
| §5.4.1 界面的安排 | 第51页 |
| §5.4.2 各窗口元素的相互访问 | 第51-52页 |
| §5.4.3 串行口的操作 | 第52页 |
| §5.5 数据处理 | 第52-56页 |
| 第六章 测量实施及实验结果 | 第56-66页 |
| §6.1 光谱响应度的测试 | 第56-60页 |
| §6.2 光电倍增管伏安特性及放大倍数测试 | 第60-62页 |
| §6.3 APD的特性测试 | 第62-64页 |
| §6.4 暗电流测试 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-66页 |
| 第七章 总结与展望 | 第66-70页 |
| §7.1 本论文完成的主要工作 | 第66-67页 |
| §7.2 本课题今后的研究方向 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-70页 |
| 附录 1 硕士期间发表的论文 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |