| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| ·功放线性化研究的目的与意义 | 第11-12页 |
| ·功放预失真技术的发展与研究现状 | 第12-14页 |
| ·本文主要工作及内容安排 | 第14-16页 |
| 第2章 功放的技术指标、特性及线性化方法 | 第16-26页 |
| ·功率放大器的非线性特性 | 第16-20页 |
| ·谐波分量（Harmonics） | 第16页 |
| ·1dB 增益压缩点 | 第16-17页 |
| ·互调失真（Intermodulation Distortion，IMD） | 第17-19页 |
| ·交调失真（Crossmodulation Distortion，CMD） | 第19页 |
| ·AM/AM 失真和 AM/PM 失真 | 第19-20页 |
| ·功放非线性对通信系统的影响 | 第20-22页 |
| ·邻道功率比（ACPR） | 第20页 |
| ·误差矢量幅度（EVM） | 第20-21页 |
| ·功放非线性对 EVM 和 ACPR 的影响 | 第21-22页 |
| ·常见的功放线性化技术 | 第22-25页 |
| ·功率回退 | 第23页 |
| ·负反馈法 | 第23页 |
| ·前馈法 | 第23-24页 |
| ·LINC 技术 | 第24页 |
| ·波峰因素削减(CFR) | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 功率放大器的行为模型 | 第26-34页 |
| ·功放行为模型概述 | 第26-27页 |
| ·无记忆功放模型 | 第27-28页 |
| ·多项式模型 | 第27页 |
| ·Seleh 模型 | 第27-28页 |
| ·具有线性记忆的功放模型 | 第28-31页 |
| ·Wiener 模型 | 第29页 |
| ·Hammerstein 模型 | 第29-30页 |
| ·Wiener- Hammerstein 模型 | 第30-31页 |
| ·具有非线性记忆的功放模型 | 第31-33页 |
| ·增强型 Wiener 模型 | 第31页 |
| ·Volterra 级数模型 | 第31-32页 |
| ·记忆多项式模型 | 第32页 |
| ·并联 Wiener 模型 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 功率放大器非线性特性的提取与建模 | 第34-53页 |
| ·功率放大器非线性的测量 | 第34-36页 |
| ·单音和双音的测量方法 | 第34-35页 |
| ·宽带数字调制信号的测量方法 | 第35-36页 |
| ·基于 ADS 仪器互连平台的系统测试 | 第36-43页 |
| ·DUT（Device Under Test）特性测试 | 第38-40页 |
| ·宽带数字调制信号测试 | 第40-43页 |
| ·记忆效应的识别与量化 | 第43-48页 |
| ·记忆效应的定义 | 第44页 |
| ·记忆效应的来源 | 第44-45页 |
| ·记忆效应的量化 | 第45-48页 |
| ·基于测量的功率放大器行为模型建模 | 第48-52页 |
| ·功率放大器行为模型识别准则 | 第48-49页 |
| ·模型参数的提取 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 基于记忆多项式的数字预失真系统的仿真与实现 | 第53-73页 |
| ·预失真线性化技术 | 第53-55页 |
| ·预失真基本原理 | 第53页 |
| ·数字预失真技术 | 第53-55页 |
| ·自适应数字预失真结构 | 第55-56页 |
| ·直接预失真结构 | 第55-56页 |
| ·间接预失真结构 | 第56页 |
| ·延时处理 | 第56-61页 |
| ·时延估计准确性的影响 | 第56-57页 |
| ·时延估计算法 | 第57-61页 |
| ·自适应数字预失真系统的理论仿真 | 第61-68页 |
| ·预失真器参数辨识 | 第61-65页 |
| ·基于工作函数的预失真器 | 第65-66页 |
| ·仿真结果 | 第66-68页 |
| ·基于 ADS-ESG-VSA 互连的自适应数字预失真系统 | 第68-72页 |
| ·系统设计 | 第68-71页 |
| ·测试结果 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第6章 总结与展望 | 第73-75页 |
| ·工作总结 | 第73页 |
| ·下一步计划 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 附录 | 第80页 |
