| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-30页 |
| ·课题背景 | 第10-16页 |
| ·LED历史 | 第10-12页 |
| ·国内外技术现状及发展趋势 | 第12-15页 |
| ·半导体照明 | 第15-16页 |
| ·LED可靠性研究综述 | 第16-21页 |
| ·失效机理分析 | 第17-18页 |
| ·可靠性预测 | 第18-21页 |
| ·其他LED可靠性研究方法 | 第21页 |
| ·本文工作 | 第21-23页 |
| 参考文献 | 第23-30页 |
| 第2章 基于特性曲线的大功率LED可靠性预测机制 | 第30-50页 |
| ·电导数特性曲线 | 第30-33页 |
| ·机理 | 第30-31页 |
| ·理想因子和串联电阻与LED可靠性关系 | 第31-33页 |
| ·光输出特性曲线 | 第33-35页 |
| ·机理 | 第33-34页 |
| ·光输出饱和度与LED可靠性关系 | 第34-35页 |
| ·光谱特性曲线 | 第35-40页 |
| ·机理 | 第35-37页 |
| ·颜色特性参数与LED色度可靠性关系 | 第37-40页 |
| ·热特性曲线 | 第40-45页 |
| ·稳态热阻测试原理 | 第40-42页 |
| ·瞬态热阻测试原理 | 第42-45页 |
| ·结温和热阻与LED可靠性关系 | 第45页 |
| ·神经网络建模 | 第45-48页 |
| ·可靠性预测机制BP网络模型 | 第46-47页 |
| ·算法改进 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 第3章 LED特性曲线测试及不确定度分析 | 第50-101页 |
| ·总体测试系统 | 第50-51页 |
| ·电导数特性曲线测试 | 第51-58页 |
| ·测试机构 | 第51-53页 |
| ·理想因子与串联电阻测量不确定度分析 | 第53-58页 |
| ·光输出特性曲线测试 | 第58-76页 |
| ·测试机构 | 第58-59页 |
| ·积分球空间响应不均匀性 | 第59-61页 |
| ·探头设计与f_1'值评定 | 第61-66页 |
| ·光谱校正积分测光法及其不确定度分析 | 第66-75页 |
| ·光输出饱和度测量不确定度分析 | 第75-76页 |
| ·光谱特性曲线测试 | 第76-94页 |
| ·测试机构 | 第76-78页 |
| ·杂散光的带通滤波与校正算法 | 第78-86页 |
| ·带宽校正算法 | 第86-89页 |
| ·色度测试不确定度分析 | 第89-94页 |
| ·热阻测试 | 第94-98页 |
| ·测试机构 | 第94-96页 |
| ·结温与热阻测量不确定度分析 | 第96-98页 |
| ·本章小结 | 第98-99页 |
| 参考文献 | 第99-101页 |
| 第4章 大功率GaN基蓝光pc白光LED可靠性实验 | 第101-121页 |
| ·实验方案 | 第101-102页 |
| ·寿命测试结果分析 | 第102-105页 |
| ·寿命外推及其不确定度 | 第102-103页 |
| ·寿命统计分析 | 第103-105页 |
| ·颜色退化量统计分析 | 第105页 |
| ·可靠性预测机制的ANN建模 | 第105-109页 |
| ·LED寿命预测机制 | 第106-107页 |
| ·LED颜色退化预测机制 | 第107-108页 |
| ·预测风险分析 | 第108-109页 |
| ·基于热阻和理想因子的LED可靠性筛选机制 | 第109-111页 |
| ·蓝光LED可靠性筛选机制 | 第109-110页 |
| ·白光LED可靠性筛选机制 | 第110-111页 |
| ·LED失效分析 | 第111-116页 |
| ·蓝光LED失效分析 | 第111-113页 |
| ·白光LED失效分析 | 第113-116页 |
| ·静电试验 | 第116-119页 |
| ·本章小结 | 第119页 |
| 参考文献 | 第119-121页 |
| 第5章 大功率LED寿命试验 | 第121-143页 |
| ·寿命测试系统 | 第121-125页 |
| ·系统设计 | 第121-122页 |
| ·基于光谱辐射测试的LED寿命试验 | 第122-123页 |
| ·积分球设计 | 第123-124页 |
| ·试验基台设计 | 第124-125页 |
| ·系统检验 | 第125页 |
| ·ALT模型 | 第125-126页 |
| ·寿命试验中的不确定度分析 | 第126-131页 |
| ·外推寿命不确定度 | 第126-129页 |
| ·加速寿命不确定度 | 第129-131页 |
| ·实验结果与讨论 | 第131-141页 |
| ·光通量衰减 | 第132-134页 |
| ·与可靠性预测机制预测结果之比较 | 第134-135页 |
| ·颜色退化 | 第135-137页 |
| ·电性能衰退 | 第137-138页 |
| ·光输出特性衰退 | 第138-139页 |
| ·芯片与荧光粉衰退之比较 | 第139-141页 |
| ·本章小结 | 第141页 |
| 参考文献 | 第141-143页 |
| 第6章 总结与展望 | 第143-146页 |
| 附录 | 第146-147页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第147-150页 |
| 致谢 | 第150页 |