| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-25页 |
| 1-1 微动与接触电阻 | 第9-13页 |
| 1-1-1 连接器的微动现象 | 第9-10页 |
| 1-1-2 微动对接触电阻的影响 | 第10-12页 |
| 1-1-3 接触电阻的测试原理和方法 | 第12-13页 |
| 1-1-4 接触电阻测试的要求 | 第13页 |
| 1-2 微动测试国内外现状 | 第13-16页 |
| 1-2-1 微动测试系统 | 第13-14页 |
| 1-2-2 微动测试系统在电接触领域的应用 | 第14-16页 |
| 1-3 动态电接触测试系统组成 | 第16-19页 |
| 1-3-1 微动电接触测试系统 | 第17-18页 |
| 1-3-2 精密定位电接触测试系统 | 第18-19页 |
| 1-4 动态电接触测试系统存在的问题 | 第19-23页 |
| 1-4-1 触头偏移量 | 第19-20页 |
| 1-4-2 部分接触电阻曲线值异常 | 第20-22页 |
| 1-4-3 接触压力精度和稳定度问题 | 第22-23页 |
| 1-4-4 接触压力、加载效率和过载冲击 | 第23页 |
| 1-5 课题内容与论文结构 | 第23-25页 |
| 第二章 微动行程误差分析 | 第25-33页 |
| 2-1 影响微动行程精度的两个因素 | 第25页 |
| 2-2 主要影响因素 | 第25-29页 |
| 2-2-1 微动平台的组成 | 第25-28页 |
| 2-2-2 样片偏移量与触头偏移量 | 第28-29页 |
| 2-3 触头偏移量分析 | 第29-30页 |
| 2-4 降低触头偏移量的改进设计 | 第30-33页 |
| 第三章 接触电阻曲线值异常分析 | 第33-45页 |
| 3-1 异常原因分析 | 第33页 |
| 3-2 NI采集卡异常排查 | 第33-36页 |
| 3-2-1 NI PCI6281数据采集卡性能参数 | 第33-34页 |
| 3-2-2 NI采集卡多通道采集的同步性和稳定性 | 第34-36页 |
| 3-3 实验数据记录异常排查 | 第36-40页 |
| 3-3-1 庞大的实验数据 | 第36-39页 |
| 3-3-2 实验数据曲线的取舍 | 第39-40页 |
| 3-4 四点法故障排除改进设计 | 第40-45页 |
| 3-4-1 四点法负极接线改进设计 | 第40-42页 |
| 3-4-2 四点法正极接线改进设计 | 第42-44页 |
| 3-4-3 触头串线改进设计 | 第44-45页 |
| 第四章 接触压力测试、加载及保持 | 第45-55页 |
| 4-1 接触压力加载精度和保持稳定度的问题分析 | 第45-46页 |
| 4-2 接触压力测试 | 第46-49页 |
| 4-2-1 力传感器选型 | 第46-47页 |
| 4-2-2 传感器安装 | 第47-49页 |
| 4-3 接触压力加载与保持结构改进设计 | 第49-55页 |
| 4-3-1 改进设计要点 | 第49-50页 |
| 4-3-2 加力部分设计 | 第50-51页 |
| 4-3-3 传导部分设计 | 第51-52页 |
| 4-3-4 支撑部分设计 | 第52-53页 |
| 4-3-5 最小可加载接触压力设计 | 第53-54页 |
| 4-3-6 接触压力稳定度分析 | 第54-55页 |
| 第五章 精密定位电接触测试系统 | 第55-58页 |
| 5-1 加载卸载接触压力控制方式 | 第55-56页 |
| 5-2 预加载中接触压力冲击 | 第56-58页 |
| 第六章 总结 | 第58-59页 |
| 6-1 课题总结 | 第58页 |
| 6-2 动态电接触测试系统的前景 | 第58-59页 |
| 附录1 测试间隔控制代码 | 第59-61页 |
| 附录2 加力结构与力传感器安装相关工程图 | 第61-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78页 |