| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-20页 |
| 1.1 OCT成像技术介绍 | 第9-10页 |
| 1.2 OCT技术发展概况 | 第10-14页 |
| 1.2.1 OCT技术光源的发展 | 第12-13页 |
| 1.2.2 OCT技术的应用拓展 | 第13-14页 |
| 1.3 全深频域OCT的发展 | 第14-16页 |
| 1.4 本论文研究内容 | 第16-18页 |
| 1.5 本论文的创新点 | 第18-20页 |
| 第二章 SD-OCT系统介绍与缺陷分析 | 第20-30页 |
| 2.1 低相干光干涉的基本原理 | 第20-21页 |
| 2.2 OCT成像技术基本原理 | 第21-23页 |
| 2.3 FD-OCT主要性能参数分析 | 第23-27页 |
| 2.3.1 分辨率 | 第23-25页 |
| 2.3.1.1 纵向分辨率 | 第23-24页 |
| 2.3.1.2 横向分辨率 | 第24-25页 |
| 2.3.2 信噪比 | 第25-26页 |
| 2.3.3 系统成像深度 | 第26-27页 |
| 2.4 频域OCT系统存在的问题 | 第27-29页 |
| 2.4.1 直流及相干噪声 | 第27-28页 |
| 2.4.2 共轭镜像干扰 | 第28-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 全深OCT系统去复共轭镜像算法原理与性能分析 | 第30-50页 |
| 3.1 去复共轭镜像方法 | 第30-41页 |
| 3.1.1 移相法 | 第30-36页 |
| 3.1.1.1 三步相移法 | 第31-32页 |
| 3.1.1.2 Carre相移算法 | 第32-33页 |
| 3.1.1.3 五步移相法 | 第33-34页 |
| 3.1.1.4 现有分步移相算法分析 | 第34-36页 |
| 3.1.2 消除多色误差的移相法 | 第36-38页 |
| 3.1.2.1 正弦相位调制移相法 | 第36-38页 |
| 3.1.3 新的消除多色误差的去复共轭镜像算法 | 第38-41页 |
| 3.1.3.1 分段移相法 | 第38-40页 |
| 3.1.3.2 修正五步移相法 | 第40-41页 |
| 3.2 几种算法误差分析与模拟 | 第41-49页 |
| 3.2.1 几种算法对多色误差消除能力分析 | 第41-45页 |
| 3.2.1.1 多色误差定义与描述 | 第41-42页 |
| 3.2.1.2 几种算法对多色误差的影响的容忍能力模拟分析 | 第42-45页 |
| 3.2.2 移相量误差分析 | 第45-49页 |
| 3.2.2.1 移相随机误差对几种算法的信噪比影响 | 第46-48页 |
| 3.2.2.2 比例缩放误差对几种算法的信噪比的影响 | 第48-49页 |
| 3.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 双分光镜的全深频域OCT系统设计 | 第50-69页 |
| 4.1 双分光镜干涉结构设计 | 第50-57页 |
| 4.1.1 双分光镜结构设计 | 第52-53页 |
| 4.1.2 连续相位延迟调节设计 | 第53-54页 |
| 4.1.3 光路系统的色散补偿 | 第54-56页 |
| 4.1.4 干涉系统硬件选型 | 第56-57页 |
| 4.2 线光谱仪设计 | 第57-61页 |
| 4.2.1 线光谱仪结构 | 第57-58页 |
| 4.2.2 光谱分辨率分析 | 第58-61页 |
| 4.3 光谱仪波长标定 | 第61-68页 |
| 4.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 双分光镜全深OCT系统成像过程分析与结果 | 第69-85页 |
| 5.1 光程附加量提取 | 第70-71页 |
| 5.2 样品离焦放置对光程附加量的影响 | 第71-73页 |
| 5.3 干涉信号强度系数求取 | 第73-76页 |
| 5.4 全深OCT系统信号处理过程 | 第76-78页 |
| 5.5 OCT成像系统深度方向灵敏度分析 | 第78-80页 |
| 5.6 全深OCT系统生物组织成像结果 | 第80-83页 |
| 5.7 本章小结 | 第83-85页 |
| 第六章 双分光镜全深频域OCT系统振动测量应用 | 第85-104页 |
| 6.1 现有光学距离测量技术介绍 | 第85-86页 |
| 6.2 全深频域OCT测距系统 | 第86-96页 |
| 6.2.1 传统频域OCT测距系统及其局限性分析 | 第86-87页 |
| 6.2.2 双倍量程的全深频域OCT测距系统 | 第87-89页 |
| 6.2.3 纳米级分辨率的频域OCT测距系统 | 第89-95页 |
| 6.2.3.1 频谱校正理论技术介绍 | 第89-92页 |
| 6.2.3.2 频谱校正频域OCT测距系统计算实例 | 第92-93页 |
| 6.2.3.3 频谱校正频域OCT测距系统对PZT压电响应特性的测量 | 第93-95页 |
| 6.2.4 纳米至厘米级量程范围全深频域OCT测距技术 | 第95-96页 |
| 6.3 全深频域OCT测距系统振动测量应用 | 第96-102页 |
| 6.3.1 全深频域OCT振动测量系统 | 第96-98页 |
| 6.3.2 积分时间对高频振动测量的影响 | 第98-102页 |
| 6.4 本章小结 | 第102-104页 |
| 总结与展望 | 第104-106页 |
| 工作总结 | 第104-105页 |
| 工作展望 | 第105-106页 |
| 参考文献 | 第106-117页 |
| 致谢 | 第117-118页 |
| 个人简历、在学期间的研究称果及发表的学术论文 | 第118-119页 |
| 已发表学术论文 | 第118-119页 |
| 参与科研项目 | 第119页 |
| 申请/授权专利 | 第119页 |
| 主要获奖情况 | 第119页 |
