环氧绝缘材料在脉冲电应力下的老化机理与寿命模型研究
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第10-17页 |
1.1 课题背景及意义 | 第10-11页 |
1.2 饱和电抗器结构及工况分析 | 第11-12页 |
1.2.1 饱和电抗器结构分析 | 第11页 |
1.2.2 饱和电抗器特殊工况分析 | 第11-12页 |
1.3 国内外研究现状 | 第12-15页 |
1.3.1 环氧树脂老化研究现状 | 第12-13页 |
1.3.2 老化机理研究现状 | 第13页 |
1.3.3 老化影响因子 | 第13-14页 |
1.3.4 绝缘材料寿命模型研究 | 第14-15页 |
1.4 本文的主要工作 | 第15-17页 |
第2章 饱和电抗器匝间电压分布 | 第17-23页 |
2.1 饱和电抗器暂态电场仿真 | 第17-19页 |
2.1.1 饱和电抗器绕组分布参数电路模型 | 第17-19页 |
2.2 基于有限元分析软件COMSOL的求解 | 第19-22页 |
2.2.1 Simulink仿真系统 | 第19页 |
2.2.2 模型结构与建立 | 第19-20页 |
2.2.3 电场分布云图 | 第20-21页 |
2.2.4 瞬态电场变化曲线 | 第21-22页 |
2.3 本章小结 | 第22-23页 |
第3章 环氧绝缘材料脉冲电老化试验 | 第23-32页 |
3.1 老化试验系统 | 第23-28页 |
3.1.1 频率、脉宽可调脉冲电压源的调制 | 第23-26页 |
3.1.2 试验电极和试样 | 第26-27页 |
3.1.3 其他设备 | 第27-28页 |
3.2 绝缘老化试验设计 | 第28-31页 |
3.2.1 试验方案 | 第28-29页 |
3.2.2 试验步骤 | 第29-31页 |
3.3 本章小结 | 第31-32页 |
第4章 基于局部放电的绝缘老化研究 | 第32-43页 |
4.1 局部放电对绝缘的影响 | 第32-36页 |
4.1.1 局部放电破坏绝缘的原因 | 第32页 |
4.1.2 局部放电发生机理 | 第32-34页 |
4.1.3 局部放电测量装置 | 第34-35页 |
4.1.4 局部放电测量步骤和数据处理 | 第35-36页 |
4.2 局部放电基本特征参量变化规律 | 第36-37页 |
4.3 局部放电相位分布参量变化规律 | 第37-40页 |
4.4 局部放电参量统计参量变化规律 | 第40-42页 |
4.5 本章小结 | 第42-43页 |
第5章 基于红外光谱和SEM的老化研究 | 第43-47页 |
5.1 红外光谱分析的原理 | 第43页 |
5.2 双酚A型环氧树脂分子结构 | 第43-45页 |
5.2.1 环氧树脂对应的红外光谱图 | 第44-45页 |
5.3 扫描电子显微镜SEM | 第45页 |
5.4 扫描电镜的变化规律 | 第45-46页 |
5.5 本章小结 | 第46-47页 |
第6章 基于Weibull统计的绝缘老化寿命评估 | 第47-54页 |
6.1 Weibull 分布 | 第47-50页 |
6.2 寿命测试的试验步骤 | 第50页 |
6.3 绝缘老化寿命评估 | 第50-52页 |
6.4 寿命预测 | 第52-53页 |
6.5 本章小结 | 第53-54页 |
第7章 结论与展望 | 第54-55页 |
7.1 结论 | 第54页 |
7.2 展望 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-59页 |
攻读硕士学位期间参加的科研工作及结果 | 第59-60页 |
致谢 | 第60页 |