| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第10-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 环件轧制技术概述 | 第11-14页 |
| 1.2.1 环件轧制原理 | 第11-12页 |
| 1.2.2 环件轧制过程研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 轧制过程中缺陷处应变分析的研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 金属磁记忆检测技术概述 | 第14-16页 |
| 1.3.1 金属磁记忆检测技术 | 第14-15页 |
| 1.3.2 磁记忆检测技术国内外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.4 研究内容与研究方法 | 第16-19页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第16-18页 |
| 1.4.2 研究方法 | 第18-19页 |
| 第2章 GCr15轴承环坯径向冷轧缺陷演变模拟 | 第19-38页 |
| 2.1 环件轧制成形力学原理 | 第19-22页 |
| 2.1.1 轴承环坯咬入过程分析 | 第19-21页 |
| 2.1.2 环件锻透过程分析 | 第21-22页 |
| 2.1.3 单位轧制力分析 | 第22页 |
| 2.2 含缺陷轴承环坯轧制模型的建立 | 第22-25页 |
| 2.2.1 几何尺寸 | 第22-24页 |
| 2.2.2 材料模型 | 第24页 |
| 2.2.3 网格划分 | 第24-25页 |
| 2.2.4 接触定义 | 第25页 |
| 2.2.5 约束和加载方式 | 第25页 |
| 2.3 轴承环坯缺陷演变机制 | 第25-26页 |
| 2.4 变形量对缺陷附近应力应变场影响规律的研究 | 第26-29页 |
| 2.5 孔洞初始尺寸对缺陷附近应力场影响规律的研究 | 第29-31页 |
| 2.6 孔洞位置对缺陷附近应力场影响规律的研究 | 第31-32页 |
| 2.7 缺陷形式对缺陷附近应力场影响规律的研究 | 第32-35页 |
| 2.7.1 球形孔洞缺陷 | 第33-34页 |
| 2.7.2 夹杂缺陷 | 第34-35页 |
| 2.8 缺陷埋藏深度对缺陷附近应力场影响规律的研究 | 第35-37页 |
| 2.9 本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 冷轧轴承套圈磁记忆特征仿真分析 | 第38-63页 |
| 3.1 金属磁记忆检测机理 | 第38-50页 |
| 3.1.1 物质的磁性 | 第38-41页 |
| 3.1.2 应力—磁场耦合效应理论基础 | 第41-44页 |
| 3.1.3 应力与磁记忆信号的关系 | 第44-50页 |
| 3.2 磁记忆检测的有限元建模 | 第50-53页 |
| 3.2.1 电磁场数值分析原理 | 第50-51页 |
| 3.2.2 轴承套圈磁记忆检测有限元建模 | 第51-53页 |
| 3.3 磁记忆检测仿真结果分析 | 第53-62页 |
| 3.3.1 含孔洞缺陷冷轧轴承套圈外侧磁场分布 | 第53-54页 |
| 3.3.2 含孔洞缺陷冷轧轴承套圈外侧磁记忆信号分布 | 第54-55页 |
| 3.3.3 检测路径对磁记忆信号的影响 | 第55-59页 |
| 3.3.4 提离高度对磁记忆信号的影响 | 第59-61页 |
| 3.3.5 缺陷埋藏深度对磁记忆信号的影响 | 第61-62页 |
| 3.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第4章 轴承环坯径向冷轧及磁记忆检测试验研究 | 第63-74页 |
| 4.1 GCr15轴承环坯冷轧试验 | 第63-67页 |
| 4.1.1 试验材料和试验设备 | 第63-64页 |
| 4.1.2 试验方案 | 第64页 |
| 4.1.3 试验结果 | 第64-67页 |
| 4.2 GCr15轴承套圈磁记忆检测试验 | 第67-73页 |
| 4.2.1 磁记忆检测仪器设备 | 第67-68页 |
| 4.2.2 试验方案 | 第68-69页 |
| 4.2.3 轴承套圈磁记忆检测数据分析 | 第69-73页 |
| 4.3 本章小结 | 第73-74页 |
| 第5章 结论 | 第74-77页 |
| 5.1 研究总结 | 第74-75页 |
| 5.2 研究展望 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 攻读学位期间获得与学位论文相关的研究成果 | 第82页 |
