| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 主要符号对照表 | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-40页 |
| 1.1 电阻开关效应 | 第9-25页 |
| 1.1.1 忆阻器与电阻开关效应 | 第9-13页 |
| 1.1.2 电阻开关效应的类型 | 第13-15页 |
| 1.1.3 电阻开关效应的机制 | 第15-25页 |
| 1.2 NiO的电阻开关效应 | 第25-30页 |
| 1.2.1 NiO单极性电阻开关效应 | 第26-27页 |
| 1.2.2 NiO双极性电阻开关效应 | 第27-28页 |
| 1.2.3 NiO阈值电阻开关效应 | 第28-30页 |
| 1.3 电阻开关效应的应用 | 第30-37页 |
| 1.3.1 阻变存储器的应用现状 | 第30-33页 |
| 1.3.2 潜行电流问题及解决办法 | 第33-37页 |
| 1.4 选题思路和研究内容 | 第37-40页 |
| 第2章 实验方法 | 第40-54页 |
| 2.1 样品制备 | 第40-45页 |
| 2.1.1 脉冲激光沉积技术 | 第40-43页 |
| 2.1.2 磁控溅射技术 | 第43-45页 |
| 2.2 样品质量表征手段 | 第45-54页 |
| 2.2.1 X射线衍射分析 | 第45-47页 |
| 2.2.2 台阶仪 | 第47-48页 |
| 2.2.3 透射电子显微镜及能量色散X射线光谱分析 | 第48-50页 |
| 2.2.4 电输运性质测量 | 第50-51页 |
| 2.2.5 交流复阻抗谱测量 | 第51-52页 |
| 2.2.6 电容测量 | 第52-54页 |
| 第3章 NiO/Nb:SrTiO_3异质结阈值阻变及其电输运 | 第54-76页 |
| 3.1 引言 | 第54-55页 |
| 3.2 样品制备和表征 | 第55-57页 |
| 3.3 原始样品的电性质 | 第57-61页 |
| 3.3.1 原始样品的电流-电压特性 | 第57-60页 |
| 3.3.2 原始样品的电容特性 | 第60-61页 |
| 3.4 NiO/Nb:SrTiO_3异质结构的阈值阻变行为 | 第61-70页 |
| 3.4.1 单向阈值阻变行为 | 第61-63页 |
| 3.4.2 阈值阻变行为对薄膜厚度和生长氧压的依赖 | 第63-68页 |
| 3.4.3 阈值阻变过程中的电容特性 | 第68-70页 |
| 3.5 机制及讨论 | 第70-75页 |
| 3.5.1 高温对阈值阻变行为的影响 | 第70-73页 |
| 3.5.2 高阻态的导电机制拟合 | 第73-75页 |
| 3.6 本章小结 | 第75-76页 |
| 第4章 NiO/Nb:SrTiO_3异质结构双极性电阻开关效应的研究 | 第76-90页 |
| 4.1 引言 | 第76-77页 |
| 4.2 样品制备和表征 | 第77-78页 |
| 4.3 NiO/Nb:SrTiO_3异质结构的双极性电阻开关效应 | 第78-89页 |
| 4.3.1 双极性电阻开关效应 | 第78-81页 |
| 4.3.2 多阻态的电阻开关效应调控 | 第81-82页 |
| 4.3.3 开关效应发生的区域 | 第82-86页 |
| 4.3.4 电阻开关效应的导电机制 | 第86-88页 |
| 4.3.5 低阻态的弛豫行为 | 第88-89页 |
| 4.4 本章小结 | 第89-90页 |
| 第5章 总结与展望 | 第90-92页 |
| 5.1 研究总结 | 第90-91页 |
| 5.2 展望 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-100页 |
| 致谢 | 第100-102页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第102页 |
