| 目录 | 第1-18页 |
| 摘要 | 第18-22页 |
| Abstract | 第22-26页 |
| 第一部分 背景介绍 | 第26-55页 |
| 第一章 高能物理学的发展 | 第27-35页 |
| ·基本粒子 | 第28-31页 |
| ·基本相互作用 | 第31-35页 |
| 第二章 LHC与ATLAS实验简介 | 第35-55页 |
| ·大型强子对撞机LHC及LHC物理 | 第35-40页 |
| ·ATLAS探测器 | 第40-55页 |
| ·ATLAS坐标系定义和命名法 | 第43-44页 |
| ·磁铁系统 | 第44-46页 |
| ·内部径迹探测器 | 第46-48页 |
| ·量能器 | 第48-51页 |
| ·缪子谱仪 | 第51-52页 |
| ·前端探测器 | 第52-53页 |
| ·触发系统 | 第53-55页 |
| 第二部分 基于粒子径迹的丢失横动量(p_T~(miss))的计算 | 第55-73页 |
| 第三章 丢失横动量(p_T~(miss))的重建 | 第57-65页 |
| ·简述丢失横动量p_T~(miss) | 第57-59页 |
| ·丢失横动量(p_T~(miss))的重建过程 | 第59-65页 |
| ·粒子径迹的额外的判选 | 第61-65页 |
| 第四章 p_T~(miss)在对撞数据中的表现 | 第65-73页 |
| ·p_T~(miss)在QCD事例中的表现 | 第66-67页 |
| ·p_T~(miss)在pile-up事例中的表现 | 第67-69页 |
| ·p_T~(miss)在W→eν事例中的表现 | 第69-73页 |
| ·利用p_T~(miss)提高W→eν筛选的信噪比 | 第70-73页 |
| 第三部分 W_γ/Z_γ产生截面的测量 | 第73-149页 |
| 第五章 数据样本 | 第75-85页 |
| ·W_γ/Z_γ的产生过程 | 第75-77页 |
| ·真实对撞数据 | 第77-79页 |
| ·蒙特卡洛模拟数据 | 第79-85页 |
| ·Pile-up事例的权重 | 第81-85页 |
| 第六章 事例筛选 | 第85-103页 |
| ·电子 | 第85-89页 |
| ·电子的重建过程 | 第85-87页 |
| ·电子的筛选 | 第87-89页 |
| ·光子 | 第89-92页 |
| ·丢失横能量E_T~(miss) | 第92-94页 |
| ·"jet清理"过程 | 第93-94页 |
| ·W_γ和Z_γ信号事例的筛选 | 第94-103页 |
| 第七章 效率的估计 | 第103-121页 |
| ·电子的效率 | 第103-110页 |
| ·电子的触发效率 | 第103-107页 |
| ·电子的鉴别效率 | 第107-110页 |
| ·光子的判选效率 | 第110-121页 |
| ·光子判选效率的定义 | 第110-111页 |
| ·光子的鉴别效率ε_γ~(ID)以及其系统误差 | 第111-117页 |
| ·光子的孤立效率ε_γ~(iso)以及其系统误差 | 第117-121页 |
| 第八章 本底事例估计 | 第121-133页 |
| ·"电弱和tt本底"的估计 | 第121-122页 |
| ·用Data-driven方法估计W_γ样本中W+jets的数量 | 第122-127页 |
| ·Data-driven方法的系统误差 | 第127-133页 |
| ·定义非孤立光子引起的系统误差 | 第128页 |
| ·定义"非严格判选"光子引起的系统误差 | 第128页 |
| ·本底控制区域中的信号泄露的影响 | 第128-129页 |
| ·修正本底控制区域本底事例的关联 | 第129-133页 |
| 第九章 产生截面的测量 | 第133-147页 |
| ·基准(fiducial)产生截面的测量 | 第134-143页 |
| ·电磁能量刻度的精度引起的系统误差 | 第137页 |
| ·E_T~(miss)的不确定度引起的系统误差 | 第137-141页 |
| ·由非正常的量能器单元引起的系统误差 | 第141页 |
| ·由FSR模型引起的系统误差 | 第141-143页 |
| ·总产生截面的测量 | 第143-147页 |
| 第十章 总结 | 第147-149页 |
| ·基准(fiducial)产生截面的测量 | 第147页 |
| ·总产生截面的测量 | 第147-148页 |
| ·结论与展望 | 第148-149页 |
| 参考文献 | 第149-155页 |
| 致谢 | 第155-157页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第157页 |
