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基于空间成像应用的SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究

摘要第5-7页
abstract第7-8页
第1章 绪论第11-21页
    1.1 研究背景及意义第11-13页
        1.1.1 背景介绍第11-12页
        1.1.2 研究意义第12-13页
    1.2 国内外发展现状第13-18页
        1.2.1 单粒子翻转原理第13-14页
        1.2.2 单粒子翻转对SRAM型FPGA的影响第14-15页
        1.2.3 国内外研究现状第15-18页
    1.3 论文的主要工作和内容安排第18-21页
第 2 章 SRAM型FPGA定时刷新与三模冗余基本原理第21-36页
    2.1 SRAM型FPGA基本结构第21-24页
    2.2 SRAM型FPGA配置原理第24-32页
        2.2.1 SRAM型FPGA配置模式第24-25页
        2.2.2 SRAM型FPGA配置信息格式第25-26页
        2.2.3 SRAM型FPGA配置寄存器第26-30页
        2.2.4 SRAM型FPGA帧地址结构第30-31页
        2.2.5 SRAM型FPGA配置时钟确立第31-32页
    2.3 三模冗余XTMR基本原理第32-34页
    2.4 本章小结第34-36页
第3章 系统总体设计方案第36-42页
    3.1 系统功能概述第36-38页
    3.2 系统需求分析第38-39页
    3.3 系统总体结构设计第39-40页
    3.4 本章小结第40-42页
第4章 硬件系统设计第42-60页
    4.1 器件选型第42-44页
        4.1.1 电源模块第42页
        4.1.2 控制模块第42页
        4.1.3 配置模块第42-43页
        4.1.4 存储模块第43-44页
        4.1.5 通信模块第44页
    4.2 接口设计第44-52页
        4.2.1 电源接口设计第44-46页
        4.2.2 配置接口设计第46-50页
        4.2.3 SRAM接口设计第50-52页
        4.2.4 RS232接口设计第52页
    4.3 PCB设计与制作第52-58页
    4.4 本章小结第58-60页
第5章 SRAM型FPGA抗SEU方案实现第60-80页
    5.1 系统逻辑总体设计第60-62页
    5.2 配置模块第62-64页
    5.3 定时刷写模块第64-70页
    5.4 故障注入方案及流程第70-72页
    5.5 回读比较设计第72-79页
    5.6 本章小结第79-80页
第6章 验证实验与结果分析第80-92页
    6.1 实验结果第80-89页
        6.1.1 定时刷新加三模冗余第81-85页
        6.1.2 回读刷新加三模冗余第85-89页
    6.2 分析第89-92页
第7章 总结与展望第92-94页
参考文献第94-98页
致谢第98-100页
作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果第100页

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