RTV涂料绝缘子表面涂层老化特性试验研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-15页 |
| 1.2.1 运行RTV绝缘子老化因素 | 第10-13页 |
| 1.2.2 硅橡胶老化特征及评估方法 | 第13-15页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第15-17页 |
| 2 运行RTV绝缘子表面涂层老化特征研究 | 第17-37页 |
| 2.1 运行RTV绝缘子抽样情况 | 第17-18页 |
| 2.2 运行RTV绝缘子涂层表面状态 | 第18-23页 |
| 2.2.1 外观形貌 | 第18-21页 |
| 2.2.2 憎水性与憎水迁移性能 | 第21-22页 |
| 2.2.3 微观形貌 | 第22-23页 |
| 2.3 运行RTV绝缘子涂层化学特性 | 第23-30页 |
| 2.3.1 FTIR分析 | 第23-26页 |
| 2.3.2 热重分析 | 第26-28页 |
| 2.3.3 X射线能谱分析 | 第28-30页 |
| 2.4 运行RTV绝缘子涂层介电特性 | 第30-34页 |
| 2.4.1 相对介电常数 | 第31-32页 |
| 2.4.2 介质损耗正切值 | 第32-33页 |
| 2.4.3 体积电阻率 | 第33-34页 |
| 2.5 运行RTV绝缘子涂层老化特征相关性研究 | 第34-36页 |
| 2.6 本章小结 | 第36-37页 |
| 3 电晕放电对RTV涂层老化特征的影响 | 第37-59页 |
| 3.1 电晕老化试验方法 | 第37-38页 |
| 3.1.1 试验装置 | 第37-38页 |
| 3.1.2 试验步骤 | 第38页 |
| 3.2 电晕老化后RTV涂层表面状态 | 第38-46页 |
| 3.2.1 外观形貌 | 第38-41页 |
| 3.2.2 微观形貌 | 第41-43页 |
| 3.2.3 憎水性及憎水迁移性能 | 第43-46页 |
| 3.3 电晕老化后RTV涂层化学特性 | 第46-50页 |
| 3.3.1 FTIR分析 | 第46-48页 |
| 3.3.2 X射线能谱分析 | 第48-50页 |
| 3.4 电晕老化后RTV涂层介电特性 | 第50-56页 |
| 3.4.1 相对介电常数 | 第50-52页 |
| 3.4.2 介质损耗正切值 | 第52-54页 |
| 3.4.3 体积电阻率 | 第54-56页 |
| 3.5 电晕老化后RTV涂层老化特征相关性研究 | 第56-58页 |
| 3.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 4 电晕老化后RTV涂层的污闪特性 | 第59-67页 |
| 4.1 试验装置及程序 | 第59-61页 |
| 4.2 试验结果及分析 | 第61-64页 |
| 4.3 本章小结 | 第64-67页 |
| 5 结论及后续工作展望 | 第67-69页 |
| 5.1 本文所得结论 | 第67-68页 |
| 5.2 后续工作展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 附录 | 第77页 |
| A.作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第77页 |
| B.作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第77页 |
