扫描探针显微镜研究聚合物表面电特性
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第13-23页 |
| 1.1 课题背景 | 第13-15页 |
| 1.2 SPM在材料科学研究应用中的国内外现状 | 第15-21页 |
| 1.3 课题来源及主要研究内容 | 第21-23页 |
| 1.3.1 课题来源 | 第21页 |
| 1.3.2 论文主要研究内容 | 第21-23页 |
| 第2章 扫描探针显微镜原理及电学功能模式 | 第23-40页 |
| 2.1 SPM技术介绍 | 第23-32页 |
| 2.1.1 SPM的发展 | 第23-26页 |
| 2.1.2 AFM的基本原理 | 第26-32页 |
| 2.2 SPM电学工作模式的介绍 | 第32-37页 |
| 2.2.1 电学检测方式的基本工作原理 | 第32-34页 |
| 2.2.2 静电力显微镜分类 | 第34-37页 |
| 2.3 针尖-样品之间电容及其作用力的分析 | 第37-39页 |
| 2.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第3章 聚合物表面微区的电荷注入与消散 | 第40-65页 |
| 3.1 引言 | 第40-41页 |
| 3.1.1 实验意义 | 第40页 |
| 3.1.2 表面电荷及其产生的机理 | 第40-41页 |
| 3.2 不同导电针尖对于薄膜表面注入电荷的影响 | 第41-50页 |
| 3.2.1 实验材料 | 第41页 |
| 3.2.2 实验仪器 | 第41-42页 |
| 3.2.3 实验方法 | 第42-43页 |
| 3.2.4 实验结果 | 第43-50页 |
| 3.3 利用KFM测量不同电压对注入电荷的影响 | 第50-56页 |
| 3.3.1 实验材料与仪器 | 第50页 |
| 3.3.2 实验方法 | 第50页 |
| 3.3.3 实验结果 | 第50-56页 |
| 3.4 利用EFM测量表面电荷的衰减 | 第56-60页 |
| 3.5 表面电荷注入与消散的分析与结果 | 第60-63页 |
| 3.5.1 表面电荷注入与消散理论分析 | 第60-63页 |
| 3.5.2 表面电荷注入与消散实验结论 | 第63页 |
| 3.6 本章小结 | 第63-65页 |
| 第4章 EFM测量材料表面电特性 | 第65-81页 |
| 4.1 引言 | 第65-66页 |
| 4.2 样品表面特性参数与针尖静电力的关系 | 第66-67页 |
| 4.3 单一材料表面微区的特征曲线 | 第67-70页 |
| 4.3.1 材料准备 | 第67页 |
| 4.3.2 特征曲线的测量 | 第67-70页 |
| 4.4 二相材料表面微区及其分界处的介电特性 | 第70-76页 |
| 4.4.1 实验材料及其制备 | 第70-71页 |
| 4.4.2 测量结果与讨论 | 第71-75页 |
| 4.4.3 二相材料的特征曲线 | 第75-76页 |
| 4.5 EFM测量表面电势 | 第76-79页 |
| 4.6 本章小结 | 第79-81页 |
| 结论 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-92页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第92-93页 |
| 致谢 | 第93页 |
