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扫描探针显微镜研究聚合物表面电特性

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第1章 绪论第13-23页
    1.1 课题背景第13-15页
    1.2 SPM在材料科学研究应用中的国内外现状第15-21页
    1.3 课题来源及主要研究内容第21-23页
        1.3.1 课题来源第21页
        1.3.2 论文主要研究内容第21-23页
第2章 扫描探针显微镜原理及电学功能模式第23-40页
    2.1 SPM技术介绍第23-32页
        2.1.1 SPM的发展第23-26页
        2.1.2 AFM的基本原理第26-32页
    2.2 SPM电学工作模式的介绍第32-37页
        2.2.1 电学检测方式的基本工作原理第32-34页
        2.2.2 静电力显微镜分类第34-37页
    2.3 针尖-样品之间电容及其作用力的分析第37-39页
    2.4 本章小结第39-40页
第3章 聚合物表面微区的电荷注入与消散第40-65页
    3.1 引言第40-41页
        3.1.1 实验意义第40页
        3.1.2 表面电荷及其产生的机理第40-41页
    3.2 不同导电针尖对于薄膜表面注入电荷的影响第41-50页
        3.2.1 实验材料第41页
        3.2.2 实验仪器第41-42页
        3.2.3 实验方法第42-43页
        3.2.4 实验结果第43-50页
    3.3 利用KFM测量不同电压对注入电荷的影响第50-56页
        3.3.1 实验材料与仪器第50页
        3.3.2 实验方法第50页
        3.3.3 实验结果第50-56页
    3.4 利用EFM测量表面电荷的衰减第56-60页
    3.5 表面电荷注入与消散的分析与结果第60-63页
        3.5.1 表面电荷注入与消散理论分析第60-63页
        3.5.2 表面电荷注入与消散实验结论第63页
    3.6 本章小结第63-65页
第4章 EFM测量材料表面电特性第65-81页
    4.1 引言第65-66页
    4.2 样品表面特性参数与针尖静电力的关系第66-67页
    4.3 单一材料表面微区的特征曲线第67-70页
        4.3.1 材料准备第67页
        4.3.2 特征曲线的测量第67-70页
    4.4 二相材料表面微区及其分界处的介电特性第70-76页
        4.4.1 实验材料及其制备第70-71页
        4.4.2 测量结果与讨论第71-75页
        4.4.3 二相材料的特征曲线第75-76页
    4.5 EFM测量表面电势第76-79页
    4.6 本章小结第79-81页
结论第81-82页
参考文献第82-92页
攻读学位期间发表的学术论文第92-93页
致谢第93页

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