| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-29页 |
| 1.1 引言 | 第11页 |
| 1.2 锂离子电池概述 | 第11-14页 |
| 1.2.1 锂离子电池简介 | 第11-12页 |
| 1.2.2 锂离子电池构成 | 第12-13页 |
| 1.2.3 锂离子电池工作原理 | 第13-14页 |
| 1.3 锂离子电池正负极材料的选择 | 第14-15页 |
| 1.3.1 锂离子电池正极材料的选择 | 第14页 |
| 1.3.2 锂离子电池负极材料的选择 | 第14-15页 |
| 1.4 硅基锂离子电池负极材料概述 | 第15-19页 |
| 1.4.1 硅基锂离子电池负极材料的储锂机理 | 第15-16页 |
| 1.4.2 硅基材料作为锂离子电池负极材料的优势 | 第16-17页 |
| 1.4.3 硅基材料作为锂离子电池负极材料的局限 | 第17-19页 |
| 1.5 硅基负极材料的改性研究现状 | 第19-27页 |
| 1.5.1 硅纳米化 | 第19-21页 |
| 1.5.2 硅/碳及硅/金属复合物 | 第21-25页 |
| 1.5.3 特殊结构设计 | 第25-27页 |
| 1.6 选题依据及研究内容 | 第27-29页 |
| 第二章 Si/C复合纤维的制备及其电化学性能研究 | 第29-43页 |
| 2.1 引言 | 第29-30页 |
| 2.2 实验部分 | 第30-33页 |
| 2.2.1 主要实验试剂与仪器 | 第30页 |
| 2.2.2 不同尺寸硅的Si/C纳米纤维复合材料的制备 | 第30-31页 |
| 2.2.3 不同纤维尺寸的Si/C纳米纤维复合材料的制备 | 第31-32页 |
| 2.2.4 样品表征 | 第32页 |
| 2.2.5 电极材料的制备及电化学性能测试 | 第32-33页 |
| 2.3 纳米硅颗粒的尺寸对复合纤维形貌、结构及性能的影响 | 第33-39页 |
| 2.3.1 不同尺寸纳米硅的形貌分析 | 第33页 |
| 2.3.2 X-射线衍射分析 | 第33-34页 |
| 2.3.3 扫描电子显微镜分析 | 第34-36页 |
| 2.3.4 电化学性能测试 | 第36-39页 |
| 2.4 纤维尺寸对复合纤维形貌、结构及性能的影响 | 第39-41页 |
| 2.4.1 扫描电子显微镜分析 | 第39页 |
| 2.4.2 电化学性能测试 | 第39-41页 |
| 2.5 小结 | 第41-43页 |
| 第三章 Si/C@C复合纤维的制备及其电化学性能研究 | 第43-59页 |
| 3.1 引言 | 第43-44页 |
| 3.2 实验部分 | 第44-45页 |
| 3.2.1 主要实验试剂与仪器 | 第44页 |
| 3.2.2 Si/C@C纳米纤维复合材料的制备 | 第44-45页 |
| 3.2.3 样品表征 | 第45页 |
| 3.2.4 电极材料的制备及电化学性能测试 | 第45页 |
| 3.3 碳化温度对Si/C@C形貌、结构及电化学性能影响 | 第45-48页 |
| 3.3.1 Si/C@C的X射线衍射分析 | 第45-46页 |
| 3.3.2 Si/C@C的拉曼光谱分析 | 第46-47页 |
| 3.3.3 Si/C@C的电化学性能测试 | 第47-48页 |
| 3.4 葡萄糖浓度对Si/C@C形貌、结构及电化学性能影响 | 第48-57页 |
| 3.4.1 Si/C@C的X射线衍射分析 | 第48-49页 |
| 3.4.2 Si/C@C的扫描电子显微镜 | 第49-50页 |
| 3.4.3 Si/C@C的透射电子显微镜和高分辨透射电子显微镜 | 第50-51页 |
| 3.4.4 Si/C@C的热失重分析 | 第51-52页 |
| 3.4.5 Si/C@C的电化学性能测试 | 第52-57页 |
| 3.5 小结 | 第57-59页 |
| 第四章 Si/PC@C复合纤维的制备及其电化学性能研究 | 第59-73页 |
| 4.1 引言 | 第59-60页 |
| 4.2 实验部分 | 第60-62页 |
| 4.2.1 主要实验试剂与仪器 | 第60-61页 |
| 4.2.2 Si/PC@C纳米纤维复合材料的制备 | 第61-62页 |
| 4.2.3 样品表征 | 第62页 |
| 4.2.4 电极材料的制备及电化学性能测试 | 第62页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第62-71页 |
| 4.3.1 样品ZIF-8的XRD分析 | 第62-63页 |
| 4.3.2 样品ZIF-8的透射图分析 | 第63页 |
| 4.3.3 样品NPC和P-NPC的透射图分析 | 第63-64页 |
| 4.3.4 Si/PC@C的X射线衍射分析 | 第64-65页 |
| 4.3.5 Si/PC@C的扫描电子显微镜 | 第65-66页 |
| 4.3.6 Si/PC@C的透射电子显微镜 | 第66页 |
| 4.3.7 Si/PC@C的BET及孔径测试分析 | 第66-67页 |
| 4.3.8 Si/PC@C的热失重分析 | 第67-68页 |
| 4.3.9 Si/PC@C的X射线光电子能谱分析 | 第68页 |
| 4.3.10 Si/PC@C的电化学性能测试 | 第68-71页 |
| 4.4 小结 | 第71-73页 |
| 第五章 结论与展望 | 第73-75页 |
| 5.1 结论 | 第73页 |
| 5.2 展望 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第83-84页 |
