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原子级厚度薄膜振动的光学探测

中文摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第一章 绪论第9-17页
    1.1 纳米机械系统的研究背景第9-11页
    1.2 纳米机械系统的研究现状第11-14页
    1.3 先进的纳米机械系统第14-15页
    1.4 本论文主要内容第15-17页
第二章 薄膜振荡的探测原理第17-25页
    2.1 纳米机械器件的基本结构第17-18页
    2.2 薄膜振荡的电学探测原理第18-21页
    2.3 薄膜振荡的光学探测原理第21-24页
    2.4 本章小结第24-25页
第三章 纳米机械器件的结构设计优化第25-33页
    3.1 单色光入射薄膜模型第25-27页
        3.1.1 时序图数列算法第26页
        3.1.2 传输矩阵算法第26-27页
    3.2 机械谐振器件的基底选择第27-30页
    3.3 硅基底上的氧化层对光响应度的影响第30-32页
    3.4 本章小结第32-33页
第四章 实验前期准备和器件制备第33-45页
    4.1 实验前期准备第33-36页
    4.2 单层石墨烯薄膜和基底的制备第36-42页
        4.2.1 机械剥离获得石墨烯第36-39页
        4.2.2 硅基底的制备第39-42页
    4.3 薄膜的干法转移第42-44页
    4.4 本章小结第44-45页
第五章 总结与展望第45-47页
    5.1 全文工作总结第45-46页
    5.2 未来工作的展望第46-47页
参考文献第47-55页
攻读硕士学位期间的成果第55-56页
致谢第56-58页

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