| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 课题背景 | 第8页 |
| 1.2 课题的研究目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.3 课题的国内外研究现状 | 第9-16页 |
| 1.3.1 射频同轴开关产品性能国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3.2 射频同轴开关热特性的国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3.3 材料蠕变的国内外研究现状 | 第13-16页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 射频同轴开关射频性能分析 | 第17-30页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 电磁波在波导中的传输特性 | 第17-25页 |
| 2.2.1 同轴线传输理论 | 第18-23页 |
| 2.2.2 射频性能参数 | 第23-25页 |
| 2.3 射频同轴开关射频性能的有限元分析方法 | 第25-28页 |
| 2.3.1 有限元建模 | 第25-26页 |
| 2.3.2 边界条件及激励加载 | 第26-27页 |
| 2.3.3 仿真结果分析及实验验证 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-30页 |
| 第3章 射频同轴开关的热性能分析 | 第30-43页 |
| 3.1 引言 | 第30页 |
| 3.2 射频同轴开关的热场数学模型 | 第30-35页 |
| 3.2.1 温度场的数学模型 | 第30-32页 |
| 3.2.2 热-结构耦合场的数学模型 | 第32-35页 |
| 3.3 射频同轴开关的电磁-热-结构分析 | 第35-41页 |
| 3.3.1 热源分析 | 第35-37页 |
| 3.3.2 边界条件分析 | 第37-39页 |
| 3.3.3 射频同轴开关的温度场结果及验证 | 第39-40页 |
| 3.3.4 射频同轴开关的结构场仿真结果 | 第40-41页 |
| 3.4 热形变对射频性能的影响分析 | 第41-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 射频同轴开关内导体材料蠕变试验及蠕变本构方程的建立 | 第43-55页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 蠕变理论 | 第43-48页 |
| 4.2.1 蠕变曲线 | 第43-46页 |
| 4.2.2 蠕变变形机理 | 第46-47页 |
| 4.2.3 影响材料蠕变的因素 | 第47-48页 |
| 4.3 蠕变试验 | 第48-52页 |
| 4.3.1 试验方案 | 第48-49页 |
| 4.3.2 试验试件及设备 | 第49-50页 |
| 4.3.3 试验结果 | 第50-52页 |
| 4.4 蠕变本构方程的建立 | 第52-54页 |
| 4.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 蠕变对射频同轴开关射频性能的影响分析 | 第55-64页 |
| 5.1 引言 | 第55页 |
| 5.2 热循环载荷与边界条件 | 第55-56页 |
| 5.3 循环通断情况下内导体的应力应变分析 | 第56-59页 |
| 5.3.1 失效位置的确定 | 第56-57页 |
| 5.3.2 热疲劳寿命的计算 | 第57-59页 |
| 5.4 射频性能退化过程分析 | 第59-63页 |
| 5.4.1 射频同轴开关性能失效阈值的确定 | 第59页 |
| 5.4.2 蠕变变形对射频性能的影响分析 | 第59-61页 |
| 5.4.3 基于退化轨迹回归模型的寿命预测 | 第61-63页 |
| 5.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |