| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 USB3.1TYPEC概述 | 第11-13页 |
| 1.3 高速电连接器国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.4 研究内容及安排 | 第15-17页 |
| 第二章 高速率信号传输信号完整性理论 | 第17-35页 |
| 2.1 传输线理论基础 | 第17-21页 |
| 2.1.1 麦克斯韦方程 | 第17-19页 |
| 2.1.2 传输线理论基本概念 | 第19-21页 |
| 2.1.3 传输线的分析方法 | 第21页 |
| 2.2 高速差分信号传输 | 第21-24页 |
| 2.2.1 差分信号 | 第22-23页 |
| 2.2.2 差分对 | 第23-24页 |
| 2.3 信号完整性问题 | 第24-34页 |
| 2.3.1 影响信号完整性的因素 | 第24-31页 |
| 2.3.2 分析与处理方法 | 第31-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 USB 3.1 TYPE C连接器结构建模及结构分析 | 第35-43页 |
| 3.1 USB 3.1 TYPE C连接器简介 | 第35-37页 |
| 3.2 USB 3.1 TYPE C连接器引脚功能分配 | 第37-39页 |
| 3.3 机械性能及环境要求 | 第39页 |
| 3.4 USB 3.1 TYPE C连接器模型的建立 | 第39-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 USB 3.1 TYPE C连接器的仿真及优化分析 | 第43-67页 |
| 4.1 电磁仿真分析方法 | 第43-45页 |
| 4.2 仿真流程及求解环境设置 | 第45-51页 |
| 4.3 信号完整性结果分析 | 第51-58页 |
| 4.3.1 TDR阻抗 | 第52-54页 |
| 4.3.2 插入损耗 | 第54-55页 |
| 4.3.3 回波损耗 | 第55-56页 |
| 4.3.4 串扰分析 | 第56-58页 |
| 4.3.5 仿真总结 | 第58页 |
| 4.4 USB 3.1 TYPE C电连接器的优化分析 | 第58-66页 |
| 4.4.1 连接器Pin针与金手指的优化 | 第59-62页 |
| 4.4.2 导体间夹层的优化 | 第62-66页 |
| 4.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 USB 3.1 TYPE C电连接器信号完整性测试分析 | 第67-77页 |
| 5.1 测试设备 | 第67-68页 |
| 5.2 仪器校准 | 第68-71页 |
| 5.3 测试夹具设计 | 第71-72页 |
| 5.4 测试结果分析 | 第72-76页 |
| 5.5 本章小结 | 第76-77页 |
| 第六章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 6.1 工作总结 | 第77-78页 |
| 6.2 后续展望 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
