致谢 | 第4-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
变量注释表 | 第14-15页 |
1 绪论 | 第15-20页 |
1.1 研究背景 | 第15-17页 |
1.2 研究意义 | 第17页 |
1.3 研究内容 | 第17-19页 |
1.4 技术路线 | 第19-20页 |
2 相关理论基础及文献综述 | 第20-33页 |
2.1 相关概念界定 | 第20-23页 |
2.2 相关理论基础 | 第23-27页 |
2.3 国内外研究动态与文献评析 | 第27-33页 |
3 外资研发嵌入指数及我国市场创新绩效的测度 | 第33-54页 |
3.1 外资研发嵌入指数测量及概况 | 第33-41页 |
3.2 我国市场创新绩效测度及比较 | 第41-53页 |
3.3 本章小结 | 第53-54页 |
4 外资研发嵌入对市场创新绩效的线性影响分析 | 第54-62页 |
4.1 模型建立及相关指标说明 | 第54页 |
4.2 样本选取与数据来源 | 第54-55页 |
4.3 面板单位根检验及协整检验结果 | 第55-57页 |
4.4 总样本OLS检验 | 第57-60页 |
4.5 总样本IV-2SLS检验 | 第60-61页 |
4.6 本章小结 | 第61-62页 |
5 对绩效的非线性影响——基于双门限回归模型的检验 | 第62-72页 |
5.1 面板门限回归方法 | 第62-64页 |
5.2 面板门限数量的确定 | 第64-65页 |
5.3 双重门限模型检验结果 | 第65-71页 |
5.4 本章小结 | 第71-72页 |
6 结论及政策建议 | 第72-75页 |
6.1 文章结论 | 第72-73页 |
6.2 政策建议 | 第73-75页 |
参考文献 | 第75-82页 |
附录 1 | 第82-88页 |
附录 2 | 第88-99页 |
作者简历 | 第99-101页 |
学位论文数据集 | 第101页 |