基于ARM的嵌入式电阻层析成像(ERT)测量系统的设计与改进
摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第1章 前言 | 第9-15页 |
1.1 多相流检测概述 | 第9-10页 |
1.1.1 多相流检测概念 | 第9页 |
1.1.2 多相流检测的意义 | 第9-10页 |
1.1.3 多相流检测中的主要技术 | 第10页 |
1.2 电阻层析成像技术概述 | 第10-13页 |
1.2.1 电阻层析成像原理 | 第11-12页 |
1.2.2 ERT国内外研究现状 | 第12-13页 |
1.3 制约电阻层析成像技术发展的主要问题 | 第13-14页 |
1.4 本论文的主要工作与内容 | 第14-15页 |
第2章 ERT实时测量系统理论及技术 | 第15-25页 |
2.1 ERT基本理论 | 第15-16页 |
2.2 ERT测量信号的实时性 | 第16-17页 |
2.3 双机通信的常用方法 | 第17-19页 |
2.4 微弱信号检测技术 | 第19-21页 |
2.5 双口RAM邮箱机制 | 第21-22页 |
2.6 嵌入式系统简介 | 第22-25页 |
第3章 ERT控制及采集电路设计 | 第25-38页 |
3.1 主控电路 | 第25-26页 |
3.2 信号发生电路 | 第26-31页 |
3.3 电极控制及屏蔽驱动单元 | 第31-32页 |
3.4 信号调理电路 | 第32-34页 |
3.5 锁定放大电路 | 第34-36页 |
3.6 数据采集单元 | 第36页 |
3.7 外设接口电路 | 第36-37页 |
3.8 本章小结 | 第37-38页 |
第4章 ERT系统的设计与改进 | 第38-50页 |
4.1 底层驱动程序的设计与改进 | 第38-40页 |
4.2 双机通信稳定性的提升 | 第40-41页 |
4.3 成像机制的改进 | 第41-44页 |
4.3.1 新成像机制的理论基础 | 第41-42页 |
4.3.2 新机制的程序设计与成像结果 | 第42-44页 |
4.4 设备集成化装箱设计 | 第44-49页 |
4.4.1 机箱基本结构设计 | 第44-46页 |
4.4.2 机箱内外部细节方面设计 | 第46-49页 |
4.5 本章小结 | 第49-50页 |
第5章 ERT系统性能测试 | 第50-64页 |
5.1 设备基本性能测试 | 第50-60页 |
5.1.1 外设接口性能测试 | 第50-52页 |
5.1.2 双口RAM驱动程序测试 | 第52-54页 |
5.1.3 成像速度测试 | 第54-55页 |
5.1.4 电极信号测试 | 第55-57页 |
5.1.5 不同位置成像实验 | 第57-60页 |
5.2 新机制下的渐变成像实验及结果分析 | 第60-63页 |
5.3 本章小结 | 第63-64页 |
结论与展望 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-69页 |
致谢 | 第69页 |